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Carl Zeiss Célèbrent le 10ème Anniversaire de la Technologie de la Traverse FIB-SEM d'AURIGA

Published on December 18, 2011 at 7:37 PM

La Microscopie de Carl Zeiss, une compagnie du Groupe de Carl Zeiss et le premier fournisseur de la lumière, laser-lecture et électron et microscopes de faisceau d'ions, ont aujourd'hui annoncé la fête de son dixième anniversaire de la technologie de la Traverse FIB-SEM d'AURIGA.

en l'honneur anniversaire d'Auriga du dixième, une cérémonie a été retenue au Centre pour des Matériaux Composites à l'Université du Delaware. Le système est la première saisie principale destinée au Laboratoire de Scientifique et Technique Interdisciplinaire neuf de l'Université (Laboratoire d'ISE) maintenant en construction.

Quand rempli, le Laboratoire d'ISE renfermera leur instrument neuf de la Traverse FIB-SEM d'AURIGA 60 et fournira presque 200.000 pieds carrés de l'espace pour des mains sur enseignement et de recherche. Selon M. David Martin, Présidence de Scientifique et Technique de Matériaux, « Cet instrument analytique universel est une excellente démonstration des opportunités interdisciplinaires de recherches qui seront fournies par le Laboratoire d'ISE. Le microscope sera ouvert d'utilisation par tous les membres de la communauté d'Université du Delaware, ainsi que de nos associés à l'industrie, aux laboratoires de gouvernement et aux institutions académiques voisines. »

« Le versatile, le système flexible de Traverse d'AURIGA est devenu l'instrument de FIB-SEM le plus réussi jamais produit par Carl Zeiss, » a dit Michael Rauscher, Directeur de la Traverse de Segment de Produit. « Nous sommes fiers de nos exécutions, et nous sommes fiers du fait que l'Université du Delaware a choisi d'équiper ses laboratoires de la technologie de la Traverse FIB-SEM d'AURIGA et de nous aider à célébrer le dixième anniversaire de ce produit pilote. »

Désigné par certains sous le nom du couteau militaire Suisse des outils de microscopie, l'instrument d'AURIGA comprend des GÉMEAUX balayant le fléau (SEM) de microscope électronique et un fléau orienté de faisceau d'ions (FIB). Le fléau de SEM permet à AURIGA de produire des images superbes, de haute résolution, nanoes d'échelle, alors que le fléau de BOBARD permet à l'outil d'enlever le matériau de l'échantillon en fraisant ou en coupant. En fait, AURIGA peut également ajouter le matériau à l'échantillon au moyen de déposition en phase vapeur. D'ailleurs, en combinant automatiquement plusieurs images, un 3D-model complet de l'échantillon peut être produit.

En raison de ces capacités, AURIGA approprié idéalement à la recherche d'aujourd'hui de matériaux qui concerne une complexité grande des tâches comprenant l'analyse de composition chimique, orientation cristallographique, remplissent la morphologie, et les attributs électriques ; supplémentaire, il approprié également superbement aux applications à la recherche des sciences de la vie.
Certaines d'applications les plus exigeantes d'aujourd'hui traité par AURIGA comprennent :

  • analyse des gisements d'hydrocarbure dans la roche schisteuse
  • mappage et reconstruction du cerveau 3D
  • représentation de vaste zone
  • et plus.

Last Update: 11. January 2012 04:18

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