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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

カールツァイスは AURIGA の大梁 FIB-SEM の技術の第 10 記念日を祝います

Published on December 18, 2011 at 7:37 PM

カールツァイスのグループのカールツァイスの顕微鏡検査、会社およびライトの一流の提供者は、レーザースキャンおよび電子およびイオンビームの顕微鏡、今日 AURIGA の大梁 FIB-SEM の技術の第 10 記念日の祭典を発表しました。

AURIGA の第 10 記念日を記念して、式はデラウェア大学の複合材料のための中心で保持されました。 システムは建設中の大学の新しいインタディシプリナリ・サイエンスおよび工学実験室 (ISE の実験室) のために今意図されている最初の主要な獲得です。

完了されたとき、 ISE の実験室は新しい AURIGA 60 の大梁 FIB-SEM の器械を収納し、手に研究および教育でスペースのほぼ 200,000 平方フィートを提供します。 先生に従ってデイヴィッドマーティンの物質科学および工学の椅子、 「この多目的分析的な器械は ISE の実験室によって提供される学際的な研究の機会の優秀なデモンストレーションです。 顕微鏡はコミュニティデラウェア大学のすべてのメンバーによって使用、また企業、政府の実験室および近隣の学術機関の私達のパートナーに開いています」。

「多目的の、適用範囲が広い AURIGA の大梁システムはカールツァイスが作り出す正常な FIB-SEM の器械になりました」ミハエル Rauscher を製品セグメント大梁のディレクター言いました。 「私達は私達の業積の自慢してい、デラウェア大学が」。実験室に AURIGA の大梁 FIB-SEM の技術を装備し、私達がこの開拓の製品の第 10 記念日を祝うのを助けることを選択したという事実の自慢しています

顕微鏡検査のツールのスイスのアーミー・ナイフとして何人かの人々によって参照されて、 AURIGA の器械はジェミニ走査型電子顕微鏡のコラムおよび (SEM)集中されたイオンビームのコラムを両方 (FIB)含んでいます。 SEM のコラムは他愛ない嘘のコラムはツールが製粉するか、または切断によってサンプルから材料を取除くことを可能にするが AURIGA がすばらしく、高リゾリューション、 nano スケールの画像を生成することを可能にします。 実際は、 AURIGA はまた化学気相堆積によってサンプルに材料を追加できます。 さらに、自動的に複数の画像を結合することによって、サンプルの完全な 3D モデルは作成することができます。

これらの機能の結果として、 AURIGA は化学成分の分析を含むタスクの大きい複雑さを含む今日の材料の研究、結晶学のオリエンテーションに理想的に適しましたり、形態および電気属性を完了します; その上に、それはまた生命科学の研究アプリケーションにすばらしく適します。
AURIGA が扱う今日の最もデマンドが高いアプリケーションのいくつかは下記のものを含んでいます:

  • 頁岩石の炭化水素の沈殿物の分析
  • 3D 頭脳のマップおよび復元
  • 大きい領域イメージ投射
  • そして多く。

Last Update: 11. January 2012 04:24

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