Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

Carl Zeiss Comemora o 10o Aniversário da Tecnologia da Viga mestre FIB-SEM do AURIGA

Published on December 18, 2011 at 7:37 PM

A Microscopia de Carl Zeiss, uma empresa do Grupo de Carl Zeiss e o fornecedor principal da luz, a laser-exploração e o elétron e os microscópios do feixe de íon, anunciaram hoje a celebração de seu décimo aniversário da tecnologia da Viga mestre FIB-SEM do AURIGA.

em honra aniversário do AURIGA do décimo, uma cerimónia foi guardarada no Centro para Materiais Compostos na Universidade de Delaware. O sistema é a primeira aquisição principal pretendida para o Laboratório novo da Ciência Interdisciplinar e da Engenharia da Universidade (Laboratório de ISE) agora sob a construção.

Quando terminado, o Laboratório de ISE abrigará seu instrumento novo da Viga mestre FIB-SEM do AURIGA 60 e fornecerá quase 200.000 pés quadrados do espaço para as mãos na pesquisa e na educação. De acordo com o Dr. David Martin, Cadeira da Ciência e da Engenharia de Materiais, “Este instrumento analítico de múltiplos propósitos é uma demonstração excelente das oportunidades interdisciplinars da pesquisa que serão fornecidas pelo Laboratório de ISE. O microscópio estará aberto ao uso por todos os membros da Universidade da comunidade de Delaware, assim como aos nossos sócios na indústria, nos laboratórios do governo e nas instituições académicos vizinhas.”

“O versátil, o sistema flexível da Viga mestre do AURIGA transformou-se o instrumento o mais bem sucedido de FIB-SEM produzido nunca por Carl Zeiss,” disse Michael Rauscher, Director da Viga mestre do Segmento do Produto. “Nós somos orgulhosos de nossas realizações, e nós somos orgulhosos do facto de que a Universidade de Delaware escolheu equipar seus laboratórios com a tecnologia da Viga mestre FIB-SEM do AURIGA e nos ajudar a comemorar o décimo aniversário deste produto de abertura de caminhos.”

Referiu alguns povos como o canivete Suíço de ferramentas da microscopia, o instrumento do AURIGA inclui uma coluna do microscópio de elétron da exploração (SEM) dos GÊMEOS e uma coluna focalizada do feixe (FIB) de íon. A coluna de SEM permite o AURIGA de criar imagens magníficas, de alta resolução, nano da escala, quando a coluna MENTIR permitir a ferramenta de remover o material da amostra mmoendo ou cortando. De facto, o AURIGA pode igualmente adicionar o material à amostra por meio do depósito de vapor químico. Além Disso, automaticamente combinando diversas imagens, um 3D-model completo da amostra pode ser criado.

Em conseqüência destas capacidades, o AURIGA é serido idealmente para a pesquisa de hoje que envolve uma grande complexidade das tarefas que incluem a análise da composição quimica, orientação crystallographic dos materiais, termina a morfologia, e atributos elétricos; adicionalmente, é serida igualmente magnìfica para aplicações da pesquisa da ciência da vida.
Algumas das aplicações de exigência de hoje que estão sendo seguradas pelo AURIGA incluem:

  • análise de depósitos do hidrocarboneto na rocha de xisto
  • traço e reconstrução do cérebro 3D
  • imagem lactente da grande área
  • e mais.

Last Update: 11. January 2012 04:30

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit