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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

Microscopio Altamente Avanzado de FEI Inagurate con la Resolución de Picometre

Published on February 29, 2012 at 6:59 PM

FEI (NASDAQ: FEIC), una compañía de cabeza de la instrumentación que proporciona a los sistemas de la proyección de imagen y de análisis para la investigación y la industria, anunciados hoy que un microscopio altamente avanzado se ha inaugurado en el Ruska-Centro de Ernst (ER-C) en Jülich, Alemania.

Este microscopio fue financiado por el proyecto del “PICO” de los Ruska-Centros de Ernst, y se basa en el microscopio electrónico de exploración de la transmisión del Titan3 G2 60-300 de FEI (S/TEM). Es uno de solamente dos de su clase en el mundo y primer en Europa con la corrección de la aberración cromática (CENTÍMETRO CÚBICO).

El Proyecto Avanzado de la Resolución de Picometre (PICO) es un proyecto de desarrollo conjunto entre FEI, los CEOS y el Ruska-Centro de Ernst centrado en la construcción de un microscopio que active el envolvente de los límites físicos de las ópticas de electrón. Esta tecnología activará a los investigadores académicos e industriales para explorar nuevas fronteras en la ciencia material para la tecnología de la información de la energía y para entender mejor el lazo entre la estructura atómica, las propiedades físicas y las aplicaciones potenciales. El ordenador sofisticado que modela los métodos desarrollados por los científicos de ER-C permite la resolución sin precedente de 50 picometers para las aplicaciones de la ciencia material.

“El logro De la ER-C de la resolución de 50 picometer es el pináculo del funcionamiento en el mundo de la microscopia,” Arroz declarado de Trisha, vicepresidente y director general de la Unidad de Asunto de la Ciencia Material de FEI. “Como proveedor de cabeza de la solución, somos orgullosos suministrar este sistema especial del Titán al ER-C como una piedra miliaria importante en tecnología y enabler para los nuevos, emocionantes descubrimientos potenciales. Permitirá nuevos discernimientos en los campos de la nanotecnología, la física de estado sólido y la ciencia material y el revelado potencial de más rápidamente, más económico de energía, y dispositivos, materiales y nanostructures más seguros.”

El ER-C recibió aproximadamente $20 millones (USD) en el financiamiento para el proyecto (que reviste el costo del sistema de PICO, del equipo analítico adicional, y de los nuevos costos del edificio) del Estado Federal, del Estado de Rin-Westfalia Del Norte, del Asiento de Investigación Alemán, y de la Asociación de Helmholtz.

El sistema de PICO se basa en la plataforma del Titan3 G2 60-300 de FEI (S/TEM). Un corrector de la aberración cromática se ha agregado para mejorar la resolución y la precisión, dando al sistema la capacidad para medir distancias interatómicas y dislocaciones del átomo con una precisión de cinco picometers a solamente un picometer. El sistema de PICO también incorpora la óptica de electrón aberración-corregida desarrollada en los años 90 por los científicos en el EMBL Heidelberg, los CEOS, la Universidad Técnica de Darmstad y Forschungszentrum Jülich.

Los logros Importantes de la ingeniería en el sistema incluyen: integración de la tecnología del corrector del CENTÍMETRO CÚBICO; dominar el reto de los 80 mecánicos del módulo del corrector del cm CENTÍMETRO CÚBICO; el embutir del software convivial; y la disposición de la adaptabilidad completa de los 60 kilovoltios a 300 kilovoltios de rango del voltaje de aceleración.

El Arroz agrega, “FEI ha tenido una colaboración cercana con el ER-C durante muchos años ahora, y de hecho, el primer microscopio electrónico disponible del mundo fue construido con la corrección de la aberración esférica en Jülich en un FEI TEM.”

Last Update: 1. March 2012 19:50

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