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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

Microscopio Altamente Avanzato di FEI Inagurate con Risoluzione di Picometre

Published on February 29, 2012 at 6:59 PM

FEI (NASDAQ: FEIC), una società principale di strumentazione che fornisce i sistemi di analisi e di rappresentazione per la ricerca e l'industria, oggi annunciati che un microscopio altamente avanzato è stato inaugurato al Ruska-Centro di Ernst (ER-C) in Jülich, Germania.

Questo microscopio è stato costituito un fondo per dal progetto “del PICO„ dei Ruska-Centri di Ernst ed è basato sul microscopio elettronico di scansione della trasmissione del Titan3 G2 60-300 di FEI (S/TEM). È uno di soltanto due del suo genere nel mondo e quello primo in Europa con la correzione di aberrazione cromatica (CC).

Il Progetto Avanzato di Risoluzione di Picometre (PICO) è un progetto di sviluppo congiunto fra FEI, i CEI e il Ruska-Centro di Ernst messo a fuoco sulla costruzione del microscopio che spinge la busta dei limiti fisici delle ottica di elettrone. Questa tecnologia permetterà ai ricercatori accademici ed industriali per esplorare le nuove frontiere nella scienza dei materiali per tecnologia dell'informazione e di energia per capire meglio la relazione fra la struttura atomica, le proprietà fisiche e le applicazioni potenziali. Il computer specializzato che modella i metodi messi a punto dagli scienziati di ER-C tiene conto una risoluzione senza precedenti di 50 picometers per le applicazioni di scienza dei materiali.

“Il risultato Della ER-C di una risoluzione di 50 picometer è il culmine della prestazione nel mondo di microscopia,„ Riso indicato di Trisha, vice presidente e direttore generale della Divisione di Affari di Scienza dei Materiali di FEI. “Come fornitore principale della soluzione, siamo fieri fornire questo sistema speciale del Titano al ER-C come una pietra miliare importante nella tecnologia ed enabler per le nuove, scoperte emozionanti potenziali. Terrà conto le nuove comprensioni nei campi di scienza di nanotecnologia, di fisica dello stato solido e dei materiali e dello sviluppo potenziale di più velocemente, più di ottimo rendimento e delle unità, dei materiali e dei nanostructures più affidabili.„

Il ER-C ha ricevuto circa $20 milioni (USD) in finanziamento per il progetto (che riguarda il costo del sistema di PICO, dell'apparecchiatura di analisi supplementare e di nuove spese del bene immobile) dallo Stato Federale, dallo Stato di Renania settentrionale-Vestfalia, dalle Fondamenta di Ricerca Tedesche e dall'Associazione di Helmholtz.

Il sistema di PICO è basato sulla piattaforma del Titan3 G2 60-300 di FEI (S/TEM). Un correttore di aberrazione cromatica si è aggiunto per migliorare la risoluzione e la precisione, danti al sistema la capacità per misurare le distanze interatomiche e gli spostamenti dell'atomo con una precisione di cinque picometers a soltanto un picometer. Il sistema di PICO egualmente comprende l'ottica di elettrone aberrazione-corretta sviluppata negli anni 90 dagli scienziati al EMBL Heidelberg, dai CEI, dall'Università Tecnica di Darmstadt e da Forschungszentrum Jülich.

I risultati Importanti di assistenza tecnica nel sistema includono: integrazione di tecnologia del correttore di CC; padronanza della sfida dei 80 meccanici del modulo del correttore di cm CC; l'incassassatura del software facile da usare; e la disposizione della flessibilità completa dei 60 chilovolt - 300 chilovolt di intervallo di tensione di accelerazione.

Il Riso aggiunge, “FEI ha avuto per molti anni una collaborazione vicina con il ER-C ora ed infatti, il primo microscopio elettronico disponibile del mondo è stato costruito con la correzione di aberrazione sferica in Jülich su un FEI TEM.„

Last Update: 1. March 2012 19:46

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