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有 Picometre 解決方法的 FEI Inagurate 高度先進的顯微鏡

Published on February 29, 2012 at 6:59 PM

FEI (那斯達克: FEIC),提供想像和分析系統的一家主導的手段公司為研究和行業,今天宣佈一個高度先進的顯微鏡開始了在厄恩斯特 Ruska 中心 (ER-C) 在 Jülich,德國。

此顯微鏡由厄恩斯特 Ruska 中心的 「PICO」項目在 FEI 的 Titan3 G2 60-300 瀏覽的傳輸電子顯微鏡 (S/TEM) 基礎上資助和。 它只是之一二其种在這個世界的和第一個在有色像差更正的 (CC) 歐洲。

先進的 Picometre 解決方法項目 (PICO) 是在 FEI、 CEOS 和於編譯推進電子光學實際限額信包的顯微鏡集中的厄恩斯特 Ruska 中心之間的一個聯合開發項目。 此技術在材料學將啟用測試學術和行業的研究員新的邊境能源和信息技術的為了更好瞭解原子結構、物理屬性和潛在的應用之間的關係。 塑造方法的複雜的計算機開發由 ER-C 科學家允許 50 個微微米的史無前例的解決方法材料學應用的。

「50 個微微米解決方法的唔 C 的成績是性能石峰在顯微學世界的」,指明的 Trisha 米、副總統和 FEI 的材料學營業單位的總經理。 「作為一位主導的解決方法提供者,我們自豪地提供此特殊巨人系統給 ER-C 作為一個主要潛在的新,扣人心弦的發現的重要事件在技術和支持因素。 它在領域將允許新的答案的納米技術、固態物理學和材料學和快速地,更加省能源潛在的發展和更加可靠的設備、材料和 nanostructures」。

ER-C 從聯邦政府、國家的北部萊茵河西華里亞,德國研究基金和 Helmholtz 關聯接受了大約 $20 百萬 (USD) 在這個項目的資助 (包括 PICO 系統、另外的分析設備和新的大廈費用的費用)。

PICO 系統在 FEI 的 Titan3 G2 60-300 (S/TEM) 平臺基礎上。 一位色像差糾正者只被添加改進解決方法和精確度,產生這個系統這個功能評定原子間的距離和原子位移與五個微微米精確度一個微微米。 PICO 系統也合併在 20 世紀 90 年代開發的變型被更正的電子光學由科學家在 EMBL 海得爾堡, CEOS、達姆施塔特技術大學和 Forschungszentrum Jülich。

在這個系統的主要工程成績包括: CC 糾正者技術的綜合化; 掌握 80 位 cm CC 糾正者模塊技工的挑戰; 埋置用戶友好軟件; 并且 60 kV 到 300 kV 的充分的靈活性的提供加速度電壓的範圍。

米添加, 「FEI 現在有與 ER-C 的接近的協作許多年,并且實際上,世界的第一臺可用的電子顯微鏡用球差更正編譯了在 FEI 的 TEM Jülich」。

Last Update: 1. March 2012 19:44

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