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Posted in | Microscopy

Lanzamiento FIB-SEM de Carl Zeiss con Capacidades de la Ablación del Laser

Published on March 11, 2012 at 10:15 AM

Carl Zeiss ha lanzado el Laser del AURIGA, un nuevo sistema avanzado que combinaba las ventajas específicas del puesto de trabajo de la Viga transversal del AURIGA (FIB-SEM) con las capacidades de un laser pulsado del micro-enfoque para la ablación rápida del material.

El Laser del AURIGA es determinado útil para el examen de las muestras donde la estructura de meta se sotierra profundamente bajo capas materiales. Para acceder a la estructura de meta que este material necesita ser quitado - un procedimiento que sea difícil de conducto con técnicas convencionales. La ablación y el cruz-seccionamiento Mecánicos de volúmenes materiales grandes causan a menudo las deformaciones, haciendo la muestra inadecuada para el examen adicional. En cambio, la aplicación de un haz de ión enfocado es ineficaz, porque el proceso es mucho demasiado lento.

El nuevo Laser del AURIGA combina probado que operación pulsó de FIB-SEM con las nuevas capacidades materiales de la ablación basadas en la aplicación de un nanosegundo, láser de estado sólido diodo-bombeado.

Ablación con ventajas de rayo láser pulsadas de las ofertas de un micro-enfoque claramente: no daña la muestra, y activa los tipos de la ablación comparables al retiro mecánico.

El laser de exploración usado en esta solución única es un nanosegundo pulsó, láser de estado sólido diodo-bombeado operatorio en 355 nanómetro proporcionados por TRUMPF AG (Ditzingen, Alemania). Fue elegido de una amplia gama de diversos tipos de laseres para cubrir óptimo las demandas de preparar las estructuras para el examen de SEM. En cooperación con Carl Zeiss, los investigadores del Fraunhofer-Instituto para la Prueba No Destructiva (IZFP - für Zerstörungsfreie Prüfverfahren de Fraunhofer-Institut) en Dresden, han optimizado el flujo de trabajo de la herramienta innovadora - facilidad de empleo, los procedimientos rápidos de la transferencia y realocación rápida de la región de interés en la muestra bajo examen, tomó el lugar central en la cooperación.

Para proteger el puesto de trabajo y los detectores del AURIGA FIB-SEM contra los escombros generados durante el proceso de la ablación del laser, el sistema se equipa de un compartimiento separado para la operación del laser. Después de preparar la estructura del interés con el laser la muestra se transfiere bajo condiciones del vacío al compartimiento principal para el examen de SEM o el pulido de la BOLA. Extraer la estructura de meta se logra automáticamente. La transferencia se realiza rápidamente y liso en cuestión de segundos - dando por resultado un flujo de trabajo muy simple y contínuo. Para realizar modelos específicos de la ablación, el laser se equipa del software del CAD que controla la carga del analizador. Esto permite al utilizador predefinir incluso los modelos altamente complejos de la estructura de la muestra.

El Laser del AURIGA es el primer tal instrumento en el mercado. Convencen el Dr. Martin Kienle, línea de productos de Director CrossBeam en Carl Zeiss: El “Laser del AURIGA es una piedra miliaria en la simplificaión del examen de SEM de una extensa gama de materiales y de estructuras innovadores, venciendo las limitaciones de los métodos convencionales de la preparación. Permite a los utilizadores realizar nuevas aplicaciones y examinar las estructuras complejas como procesadores de la nanotecnología de la siguiente-generación o células solares flexibles de la película fina.” Las aplicaciones Futuras comprenden la fabricación del semiconductor, photovoltaics, electrónica del polímero, ensamblando y haciendo contacto con tecnologías, la prospección del petróleo y gas, la consulta geomecánica, los productos farmacéuticos, las ciencias de la vida y los materiales investigan en general. El sistema es también conveniente para la preparación de los microsistemas que contienen suave o hacen espuma las fases quebradizas, por ejemplo, los materiales de construcción ligeros, las fibras de vidrio o la cerámica, los materiales compuestos, los filtros del poro, las baterías, las pilas de combustible o las muestras geológicas.

Last Update: 11. March 2012 10:44

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