Site Sponsors
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
Posted in | Microscopy

Старт FIB-SEM Карл Zeiss с Возможностями Удаления Лазера

Published on March 11, 2012 at 10:15 AM

Карл Zeiss запустило Лазер AURIGA, новую предварительную систему совмещая специфические преимущества рабочего места Поперечной балки AURIGA (FIB-SEM) с возможностями пульсированного лазера микро--фокуса для быстрого удаления материала.

Лазер AURIGA в частности полезн для рассмотрения образцов где структура цели глубоки похоронена под материальными слоями. Приобрести доступ к структуре цели этой материальные потребности извлечься - процедура которая трудна для того чтобы дирижировать с обычными методами. Механически удаление и крест-распределять больших материальных томов часто причиняют деформации, делая образец неподобающе для дальнейшего обследования. В контрасте, прикладывать сфокусированный луч иона неработоспособен, потому что процесс очень слишком медленн.

Новый Лазер AURIGA совмещает доказано что деятельность FIB-SEM при новые материальные возможности удаления основанные на применении наносекунды пульсировало, диод-нагнетенный твердотельный лазер.

Удаление с пульсированным лазерным лучом микро--фокуса предлагает ясные преимущества: оно не повреждает образец, и оно включает тарифы удаления соответствующие к механически удалению.

Просматривая лазер используемый в этом однозначном решении наносекунда пульсировал, диод-нагнетенный твердотельный лазер работая на 355 nm обеспеченном ТРУМПФ AG (Ditzingen, Германию). Он был выбран от обширного ряда разных видов лазеров оптимально для того чтобы соотвествовать подготовлять структуры для рассмотрения SEM. В сотрудничестве с Карл Zeiss, исследователя от Fraunhofer-Института для Испытания Без Разрушения (IZFP - für Zerstörungsfreie Prüfverfahren Fraunhofer-Institut) в Дрездене, оптимизировали поток операций новаторского инструмента - легкий в использовании, быстрые процедуры по перехода и быстрая перестановка зоны интереса на образце под рассмотрением, приняло центральное место в сотрудничестве.

Для того чтобы защитить рабочее место и детекторы AURIGA FIB-SEM от твердых частиц произведенных во время процесса абляции лазера, система оборудована с отдельно камерой для деятельности лазера. После подготовлять структуру интереса с лазером образец перенесен под условия вакуума к главным образом камере для рассмотрения SEM или полировать FIB. Восстановлять структуру цели достиган автоматически. Переход унесен быстро и ровно в деле секунд - приводящ к в очень простом и непрерывном потоке операций. Для того чтобы осуществить специфические картины удаления, лазер оборудован при ПО CAD контролируя головку блока развертки. Это позволяет пользователь предопределить даже сильно сложные картины структуры образца.

Лазер AURIGA первое такая аппаратура на рынке. Убежен Др. Мартин Kienle, номенклатура товаров Директора Поперечной балки на Карл Zeiss: «Лазер AURIGA основной этап работ в упрощать рассмотрение SEM более обширного ряда новаторских материалов и структур, отжимая ограничения обычных методов подготовки. Он позволяет пользователи унести новые применения и рассмотреть сложные структуры как обработчики нанотехнологии следующего поколени или гибкие фотоэлементы тонкого фильма.» Будущие применения состоят из изготавливания полупроводника, photovoltaics, электроники полимера, соединяя и контактирующ технологии, prospection нефти и газ, geomechanical советоватьть с, фармацевтическая продукция, науки о жизни и материалы исследуют вообще. Система также соответствующа для подготовки микросистем которые содержат мягкую или хрупкие участки, как пенятся, облегченные конструкционные материалы, стеклянные волокна или керамика, композиционные материалы, фильтры поры, батареи, отсеки топливного бака или геологохимические образцы.

Last Update: 11. March 2012 10:44

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit