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Posted in | Nanoanalysis

Sistema de Perfilado Superficial de la 100a Aguja de DektakXT de la Nave de Bruker

Published on April 3, 2012 at 12:05 AM

La División Nana de las Superficies de Bruker (Tucson, AZ) ha expidido el Sistema de Perfilado Superficial de la Aguja de 100 DektakXT desde que el producto lanzó el pasado abril.

El Sistema de Perfilado Superficial de la Aguja de Bruker 100 DektakXT™.

El DektakXT ofrece la facilidad de empleo mejorada y la mejor repetibilidad de mejor de 5 angstromes, 1 sigma de la altura del paso de progresión de la industria. Éstos y otras características de funcionamiento han hecho DektakXT el nuevo estándar industrial para vigilar la deposición de la película fina y graban el ácido ya sistemas en solar, FPD, HBLED, e investigación del semiconductor.

“Nos encantan para seleccionar Dektak XT como el método del control de calidad al sistema del mando de proceso de Jinjing,” declarado, Sr. Sun, Gerente de Calidad para el Grupo de Jinjing en China, que compró el 100o sistema. “La decisión fue tomada no sólo basado en experiencia anterior con los profilers de Dektak, pero también porque los profilers de Dektak son herramientas populares en el mercado solar de China para Si-Basado y la industria solar de la película fina. Además, estamos realmente alegres ver las nuevas características que el DektakXT ofrece.” “DektakXT combina las mejores características de diez generaciones de profilers de la aguja de Dektak y agrega mejorías sustanciales en repetibilidad de la medición, facilidad de empleo y flexibilidad,” Roberto explicado Loiterman, el Vicepresidente Ejecutivo y Director General de la Aguja de Bruker y del Asunto Óptico de la Metrología. “Estamos satisfechos con su adopción rápida como el estándar industrial y ése sus características y funcionamiento está proporcionando a nuestras capacidades y valor aumentados los clientes en muchos mercados.”

El DektakXT incorpora una nueva referencia del subsistema y ópticamente de la parte plana ë/10 de la exploración que mejore estabilidad de la línea de fondo con velocidades del hasta cuarenta por ciento más rápidas de la exploración, mientras que preserva la exactitud del sistema legendaria de Dektak. Equipado del software Vision64, DektakXT es el primer profiler de la aguja para ofrecer una arquitectura de los programas del procesamiento 64-bit, en paralelo que acelere grandemente de adquisición de datos y análisis. Ofrece un nuevo modo del “Rápido-Analizador” con rápido, un análisis del botón de los parámetros tales como la altura del paso de progresión y la textura medias de la superficie. Es también el primer profiler de la aguja para utilizar una cámara de alta definición, del verdadero-color para la resolución aumentada y la claridad de imagen de las superficies de la muestra. Finalmente, DektakXT emplea el diseño único de la carga del único-sensor de Dektak para la adaptabilidad óptima de la exploración y la característica “del Intercambio Fácil de la Punta” que permite al intercambio rápido de las puntas de aguja dirigir una amplia gama de aplicaciones.

Last Update: 3. April 2012 02:52

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