Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
Posted in | Nanoanalysis

De Oppervlakte die van de Naald DektakXT van het Schip 100ste van Bruker Systeem Profileert

Published on April 3, 2012 at 12:05 AM

Afdeling van de Oppervlakten van Bruker heeft Nano (Tucson, AZ) de Oppervlakte die van Naald verscheept 100 DektakXT Systeem sinds het gelanceerde product Profileert vorig April.

Bruker 100 de Oppervlakte die van de Naald DektakXT™ Systeem Profileert.

De eigenschappen DektakXT verbeterden handigheid en de herhaalbaarheid van de de staphoogte van de industrie beste van dan beter 5 ångström, 1 sigma. Deze en andere prestatieskenmerken hebben reeds tot DektakXT de nieuwe de industrienorm voor de controle van dunne filmdeposito gemaakt en systemen in zonne, FPD, HBLED, en halfgeleideronderzoek geëtst.

„Wij hebben het genoegen om Dektak XT als kwaliteitsbeheersing methode aan de procesbeheersingssysteem van Jinjing te selecteren,“ verklaard, M. Sun, de Manager van de Kwaliteit voor Groep Jinjing in China, dat het 100ste systeem kocht. Het „besluit werd genomen niet alleen dat op vroegere ervaring met profilers Dektak wordt gebaseerd, maar ook omdat profilers Dektak populaire hulpmiddelen in de zonnemarkt van China voor zowel op Si-Gebaseerd als de dunne film zonneindustrie zijn. Bovendien zijn wij werkelijk blij om de nieuwe eigenschappen te zien die DektakXT.“ aanbiedt „DektakXT combineert de beste eigenschappen van tien generaties van Dektak naaldprofilers en voegt wezenlijke verbeteringen van metingsherhaalbaarheid toe, handigheid en de veelzijdigheid,“ verklaarde Robert Loiterman, Uitvoerende Ondervoorzitter en Algemene Manager van de Naald van Bruker en de Optische Zaken van de Metrologie. „Wij zijn pleased met zijn snelle goedkeuring als de industrienorm en dat zijn eigenschappen en prestaties onze klanten verbeterde mogelijkheden en waarde in vele markten.“ verstrekken

DektakXT neemt een nieuw aftastensubsysteem en een optisch vlakke verwijzing ë/10 op die basislijnstabiliteit met maximaal veertig percenten snellere aftastensnelheden, terwijl het bewaren van legendarische het systeemnauwkeurigheid van Dektak verbetert. Uitgerust met software Vision64, is DektakXT de eerste naald profiler om een verwerkings van de met 64 bits te kenmerken, architectuur parallelle software die zeer gegevens aanwinst en analyse versnelt. Het kenmerkt een nieuwe wijze van de „snel-Analysator“ met snel, één knoopanalyse van dergelijke parameters zoals gemiddelde staphoogte en oppervlaktetextuur. Het is ook de eerste naald profiler om een high-definition, waar-kleurencamera voor verbeterde resolutie en beeldduidelijkheid van steekproefoppervlakten te steunen. Tot Slot wendt DektakXT het unieke single-sensor hoofdontwerp van Dektak voor optimale aftastenflexibiliteit de eigenschap en van de „Gemakkelijke Uitwisseling van het Uiteinde“ die aan snelle uitwisseling van naalduiteinden toelaat om een brede waaier van toepassingen te richten.

Last Update: 3. April 2012 02:51

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit