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Posted in | Nanomagnetics | Nanoanalysis

Nueva Técnica Para Detectar Fallas en Estructuras Magnéticas de la Nano-Escala

Published on April 6, 2012 at 2:48 AM

Por Cameron Chai

Las personas de investigadores del National Institute of Standards and Technology (NIST), del Instituto de Tecnología Real, y de la Universidad de Maryland Nanocenter han desarrollado una nueva técnica para determinar fallas en estructuras magnéticas de la nano-escala, incluso cuando se sotierran debajo de la superficie de un dispositivo electrónico de múltiples capas.

Atrapado debajo de la punta magnética de un voladizo de la microescala, las ondas de barrena se pueden utilizar non-destructively para medir las propiedades de materiales y de la búsqueda magnéticos para los defectos del nanoscale, especialmente en sistemas magnéticos de múltiples capas como un mecanismo impulsor duro típico, donde los defectos se podrían soterrar debajo de la superficie. (Haber: McMichael/NIST)

El método probado en el Centro del NIST para la Tecnología de Nanoscale (CNST) se basa en la investigación conducto por los científicos en la Universidad Estatal de Ohio. El concepto debe lindar e imagen las perturbaciones oscilantes de un campo magnético llamadas como ondas de barrena en una película fina. Estas ondas de barrena lindadas se pueden utilizar como herramienta para medir las propiedades materiales magnéticas sin estropear y para detectar los defectos del nanoscale, que pueden o haber producido incidentes de la memoria.

Roberto McMichael, investigador en el NIST, explicado que cuando la magnetización de un material es golpeada por microondas, crea una ondulación con las ondas de barrena porque la energía de microonda impulsa las barrenas, que a su vez impulsan otras barrenas. Las microondas se sintonizan a una frecuencia apenas más allá del rango en donde ocurre la propagación de las ondas de barrena, excepto la derecha del área debajo de la punta magnética de la antena.

Las Fallas en el material perturban las ondas de barrena lindadas para causar un efecto, que activa la caracterización de los defectos en 100 escalas del nanómetro de longitud. El estudio Anterior había demostrado este efecto en las barrenas magnéticas, que fueron orientadas verticalmente a la superficie de película magnética, así limitando la resolución porque las barrenas individuales fueron conectadas fuertemente con otras barrenas.

En este trabajo, las barrenas magnéticas no se acoplan y se arreglan fuertemente en un avión con uno a. Este modelo no sólo se asemeja a la estructura la mayor parte de los dispositivos magnéticos pero también activa más cerca el enfoque y más de alta resolución.

Fuente: http://www.nist.gov/

Last Update: 6. April 2012 03:28

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