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Posted in | Nanomagnetics | Nanoanalysis

Nano 가늠자 자석 구조물에 있는 결함을 검출하는 새로운 기술

Published on April 6, 2012 at 2:48 AM

Cameron 차이의

국립 표준 기술국 (NIST)에서 연구원, 왕 공과 대학, 및 Nanocenter 메릴란드 대학의 팀은 다중층 전자 장치의 표면 아래에 매장될 때라도, 새로운 nano 가늠자 자석 구조물에 있는 결함을 확인하기 위하여 기술을 개발했습니다.

마이크로 눈금 외팔보의 자석 끝 아래에 덫을 놓아, 스핀 파동은 non-destructively 결점이 표면 아래에 매장될 수 있던 전형적인 하드드라이브 같이 다중층 자석 시스템에서 nanoscale 결점을 위한 자석 물자 그리고 수색의 속성을, 특히 측정하기 위하여 이용될 수 있습니다. (크레딧: McMichael/NIST)

Nanoscale 기술 (CNST)를 위해 NIST 센터에 시험된 방법은 오하이오 주립 대학에 과학자가 한 연구에 근거를 둡니다. 개념은 심상 박막에 있는 스핀 파동으로 불린 자기장의 전류를 고주파로 변환시키는 섭동 수감하는 것을 입니다. 이 좁은 스핀 파동은 공구로 자석 물자 속성을 손상 초래 없이 측정하고 또는 일으키기 위하여 기억 장치 실패를 일지모른는 nanoscale 결점을 검출하기 위하여 이용될 수 있습니다.

마이크로파 에너지가 차례차례로 그밖 회전급강하를 재촉하는 회전급강하를 재촉하기 때문에 물자의 자화가 마이크로파에 의해 명중될 때, 스핀 파동으로 잔물결을 만든다는 것을 로버트 McMichael, 설명되는 NIST에 연구원. 마이크로파는 자석 탐사기 끝 아래에 지역 권리를 제외한 범위 저쪽에 주파수에 스핀 파동의 번식이 생기는지 그 안에서 다만 조정됩니다.

물자에 있는 결함은 좁은 100개 길이 nm 가늠자에 결점의 특성을 가능하게 하는 효력을 일으키는 원인이 되기 위하여 스핀 파동을 방해합니다. 초기 연구 결과는 개별적인 회전급강하가 그밖 회전급강하와 강하게 연결되었기 때문에 자기 필름의 표면에 수직으로 동쪽으로 향하게 한 따라서 해결책을 제한하는 자석 회전급강하에 있는 이 효력을, 설명했었습니다.

이 일에서는, 자석 회전급강하는 서로 비행기에서 강하게 결합되지 않으며 배열됩니다. 이 패턴은 뿐만 아니라 자석 장치의 대부분의 구조물을 닮고 또한 근접하여 집중시키기 및 고해상 가능하게 합니다.

근원: http://www.nist.gov/

Last Update: 6. April 2012 03:27

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