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检测在纳诺缩放比例磁性结构的缺点的新的技术

Published on April 6, 2012 at 2:48 AM

卡梅伦柴

研究员,皇家工学院和马里兰大学小组从国家标准技术局 (NIST) 的 Nanocenter 开发新的技术识别在纳诺缩放比例磁性结构的缺点,既使当他们在多层电子设备的表面下被埋没。

捕捉在微小等级悬臂的磁性技巧下,自旋波可以使用到非破坏性评定磁性材料和搜索属性为 nanoscale 缺陷,特别是在象一个典型的硬盘驱动器的多层磁性系统,缺陷可能在表面下被埋没。 (赊帐: McMichael/NIST)

这个方法被测试在 NIST 中心为 Nanoscale 技术 (CNST) 在俄亥俄州立大学的科学家开展的这个研究基础上。 这个概念限制和图象一个作为在薄膜的自旋波叫的磁场的摆动的扰动。 这些局限的自旋波可以用于作为工具评定磁性有形资产,无需造成故障和检测 nanoscale 缺陷,可以或导致了内存故障。

罗伯特 McMichael, NIST 的一位研究员,解释,当材料的磁化由微波击中,它用自旋波创建波纹,因为微波能推动空转,反之推动其他空转。 微波调整对一个频率在范围之外,自旋波的传送发生,不包括在磁性探测技巧下的区。

在材料的缺点干扰局限的自旋波导致作用,启用缺陷描述特性在 100 毫微米长度等级的。 更早的研究展示了在磁性空转的此作用,垂直被安置对表面磁性薄膜,因而限制解决方法,因为各自的空转用其他空转严格连接了。

在此工作,磁性空转在彼此的一架飞机没有严格被耦合和被安排。 此模式不仅类似于大多的结构磁性设备,而且启用紧密集中和更加高分辨率。

来源: http://www.nist.gov/

Last Update: 6. April 2012 03:25

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