Site Sponsors
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
Posted in | Nanomagnetics | Nanoanalysis

檢測在納諾縮放比例磁性結構的缺點的新的技術

Published on April 6, 2012 at 2:48 AM

卡梅倫柴

研究員,皇家工學院和馬里蘭大學小組從國家標準技術局 (NIST) 的 Nanocenter 開發新的技術識別在納諾縮放比例磁性結構的缺點,既使當他們在多層電子設備的表面下被埋沒。

捕捉在微小等級懸臂的磁性技巧下,自旋波可以使用到非破壞性評定磁性材料和搜索屬性為 nanoscale 缺陷,特別是在像一個典型的硬盤驅動器的多層磁性系統,缺陷可能在表面下被埋沒。 (赊帳: McMichael/NIST)

這個方法被測試在 NIST 中心為 Nanoscale 技術 (CNST) 在俄亥俄州立大學的科學家開展的這個研究基礎上。 這個概念限制和圖像一個作為在薄膜的自旋波叫的磁場的擺動的擾動。 這些局限的自旋波可以用於作為工具評定磁性有形資產,无需造成故障和檢測 nanoscale 缺陷,可以或導致了內存故障。

羅伯特 McMichael, NIST 的一位研究員,解釋,當材料的磁化由微波擊中,它用自旋波創建波紋,因為微波能推動空轉,反之推動其他空轉。 微波調整對一個頻率在範圍之外,自旋波的傳送發生,不包括在磁性探測技巧下的區。

在材料的缺點干擾局限的自旋波導致作用,啟用缺陷描述特性在 100 毫微米長度等級的。 更早的研究展示了在磁性空轉的此作用,垂直被安置對表面磁性薄膜,因而限制解決方法,因為各自的空轉用其他空轉嚴格連接了。

在此工作,磁性空轉在彼此的一架飛機沒有嚴格被耦合和被安排。 此模式不僅類似於大多的結構磁性設備,而且啟用緊密集中和更加高分辨率。

來源: http://www.nist.gov/

Last Update: 6. April 2012 03:25

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit