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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

子毫微米想象和分析的 JEOL 生成多才多艺的 FESEMs

Published on April 17, 2012 at 8:10 PM

JEOL 生成新系列场致发射扫描电子显微镜 (FE-SEM) 该聘用膨胀的想象和分析功能定制对性能要求。

JEOL JSM-7100F 串联提供子1 nm 想象功能和分析描述特性在这个子100nm 缩放比例,实现通过大射线当前的组合与一个小的探测范围在所有加速的电压。

JEOL JSM-7100F 放射扫描电子显微镜 (FE-SEM)。

设计为这个预算值讲究实验室, JSM-7100F 设计是提供膨胀的性能的一个新的级别的高度多才多艺,易用分析场致发射 SEM。 通过唯一 ‘透镜场致发射枪’, SEM 传送射线当前 ¡ Ý 200 nA 到这个范例。 开口角度控制透镜 (ACL)自动地优选小的高分辨率想象的探测当前光点直径,并且地点为当前高光束,高分辨率微量分析塑造,而射线减速模式削减充电在绝缘的标本例如陶瓷、半导体和聚合物。

对先进的高分辨率功能, JSM-7100FT 设计以一个最近被重新设计的杂种透镜为特色和通过这与能源补白的透镜探测器。 此 SEM 列优越电子光学设计启用 nanostructures 和标本表面详细资料高分辨率想象任何物质类型的,包括磁性范例。 这透镜加速度的电子束的综合化和减速,减少低 kV 变型,产生高分辨率在最低的加速的电压。 另外, JEOL 的证明的射线减速模式 (GB 模式) 减少充电,当想象绝缘的标本,改进光点直径在低 kV 时,并且提高表面地势。

场致发射 SEMs 此新系列提供多个分析技术和想象的增加的对绝缘的范例的通用性和分析。 每个显微镜设计以涡轮分子泵为特色 (TMP),并且保证一个干净的真空环境的一间迅速标本替换气密室总是被维护。

选项低真空运算

选项 LV 功能 (300 Pa) 为 JSM-7100F 和 JSM-7100FT 提供另外的通用性。 LV 功能通过显微镜用户接口是充分地受控的并且允许所有 LV 管口被缩回,无需中断无限制的低放大想象和最大数量射线当前的 (200 真空 nA) 在高真空。 LV 系统用一台固体 BSE 探测器装备。

能适应为多个分析技术

JSM-7100F 串联用适应各种各样的探测器和辅助部件同时和,无需减弱性能互相的一个大标本房间装备,包括: 多个 EDS、 WDS、词根、 BSE、分类和红外线照相机。 这个系统可能用各种各样的潜水艇阶段也装备包括拉伸,热化和冷却的阶段在原处实验的。

改进的生产率

JEOL 为其易用 SEM 操作软件,图形用户界面和生产率提高功能是显耀的。 存储的图象保留操作条件,并且阶段协调有效担当各自的处方功能,是理想的在多用户环境里。 所有图象存档,搜索,评定,报表生成,过滤和 montaging 可以从图象数据库执行。

Last Update: 17. April 2012 20:24

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