El Estudio del NIST Prueba la Estabilidad Térmica de las Películas Nanómetro-Gruesas para la Electrónica Orgánica

Published on April 19, 2012 at 3:25 AM

Por Cameron Chai

Un equipo de investigación del National Institute of Standards and Technology (NIST) ha ayudado a un equipo de investigación internacional a verificar la estabilidad de una membrana ultrafina usando la espectroscopia de la fino-estructura de la amortiguación de la Radiografía del cercano-borde (NEXAFS).

La membrana ultrafina desarrollada por el equipo de investigación internacional se puede utilizar como componente clave para una nueva clase de la electrónica orgánica flexible, esterilizable para el uso en aplicaciones médicas. A los científicos de la Universidad de Tokio, con las piezas de la Universidad de Princeton dirigen a las personas, Universidad de Hiroshima, la Dependencia de Ciencia de Japón y de Tecnología, el Max Planck Institute hacia la Investigación De Estado Sólido y Nipón Kayaku, una compañía Tokio-Basada.

El equipo de investigación internacional ha desarrollado un material de entrada innovador que activa la esterilización da alta temperatura de transistores orgánicos, así haciéndolos convenientes para las aplicaciones médicas tales como marcapasos suaves y dispositivos implantables. Este material de entrada se ensambla en un de una sola capa ultrafino de las moléculas lineales apretado pila de discos que ensamblan a un pequeño ángulo de la superficie. Las personas informaron que el espesor de esta (SAM) capa monomolecular uno mismo-ensamblada puede estar hacia abajo a 2 nanómetro.

Las mediciones Estructurales del SAM fueron realizadas en la línea de poca energía del haz de Radiografía del NIST situada en la Fuente De Luz Del Sincrotrón Nacional en Nueva York. Muestras de la película ultrafina de anteriormente y después de que el tratamiento térmico fuera probado en el beamline del NIST que utilizaba técnica de NEXAFS para medir la estabilidad térmica y la orientación molecular de la película.

La técnica de NEXAFS es capaz de detectar vínculos químicos en la superficie y dentro de la muestra. Por ejemplo, puede mostrar la disparidad entre un único bono del carbón y un bono doble del carbón dentro de una molécula. Las mediciones de NEXAFS probaron que las películas ultrafinas del SAM podían mantener su integridad y estabilidad incluso en las temperaturas encima de 150°C.

Fuente: http://www.nist.gov

Last Update: 19. April 2012 04:43

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