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NIST 研究证明毫微米厚实的影片的耐热性有机电子的

Published on April 19, 2012 at 3:25 AM

卡梅伦柴

从国家标准技术局 (NIST) 的研究小组使用近边缘 X-射线吸收细致结构分光学 (NEXAFS),帮助国际研究小组验证超薄的膜的稳定性。

国际研究小组发展的超薄的膜可以使用作为一个关键部件为灵活,可消毒有机电子新的选件类为使用在医疗应用。 这个小组由从东京大学的科学家朝向,有从普林斯顿大学的成员的、广岛大学、日本科学技术机构、最大 Planck 学院为固体研究和日本 Kayaku,一家基于东京的公司。

国际研究小组开发了启用有机晶体管高温绝育,因而使他们适用于医疗应用例如软的心脏起搏器和可植入的可移植的设备的创新门材料。 此门材料装配自己到聚集在小角度对表面的一超薄单层紧密地被包装的线性分子。 小组通知此自被汇编的 (SAM)单层的厚度可以下降到 2 毫微米。

SAM 的结构上的评定进行了在 NIST 低能源伦琴射线束线路国家同步加速器光源位于纽约。 超薄的影片的范例从预先的,并且,在热治疗在使用 NEXAFS 技术的 NIST beamline 被测试了评定这部影片的耐热性和分子取向以后。

NEXAFS 技术能够检测化学键在表面和在这个范例内部。 例如,它可能显示在一个唯一碳债券和一个双碳债券之间的差距在分子内。 NEXAFS 评定证明, SAM 超薄的影片能保持他们的完整性和稳定性甚而在 150°C. 上的温度。

来源: http://www.nist.gov

Last Update: 19. April 2012 04:41

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