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NIST 研究證明毫微米厚實的影片的耐熱性有機電子的

Published on April 19, 2012 at 3:25 AM

卡梅倫柴

從國家標準技術局 (NIST) 的研究小組使用近邊緣 X-射線吸收細致結構分光學 (NEXAFS),幫助國際研究小組驗證超薄的膜的穩定性。

國際研究小組發展的超薄的膜可以使用作為一個關鍵部件為靈活,可消毒有機電子新的選件類為使用在醫療應用。 這個小組由從東京大學的科學家朝向,有從普林斯頓大學的成員的、廣島大學、日本科學技術機構、最大 Planck 學院為固體研究和日本 Kayaku,一家基於東京的公司。

國際研究小組開發了啟用有機晶體管高溫绝育,因而使他們適用於醫療應用例如軟的心臟起搏器和可植入的可移植的設備的創新門材料。 此門材料裝配自己到聚集在小角度對表面的一超薄單層緊密地被包裝的線性分子。 小組通知此自被彙編的 (SAM)單層的厚度可以下降到 2 毫微米。

SAM 的結構上的評定進行了在 NIST 低能源倫琴射線束線路國家同步加速器光源位於紐約。 超薄的影片的範例從預先的,并且,在熱治療在使用 NEXAFS 技術的 NIST beamline 被測試了評定這部影片的耐熱性和分子取向以後。

NEXAFS 技術能够檢測化學鍵在表面和在這個範例內部。 例如,它可能顯示在一個唯一碳債券和一個雙碳債券之間的差距在分子內。 NEXAFS 評定證明, SAM 超薄的影片能保持他們的完整性和穩定性甚而在 150°C. 上的溫度。

來源: http://www.nist.gov

Last Update: 19. April 2012 04:41

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