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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

牛津仪器获得 SEM X-射线系统的有名望的奖

Published on April 23, 2012 at 11:32 AM

牛津仪器自豪地宣布其 NanoAnalysis 分部获得了企业有名望的女王的证书和创新的 2012年。

牛津仪器拿着获得创新的女王的证书的 X 最大探测器的 NanoAnalysis 部门的伊恩 Barkshire 博士总经理。

此证书为在,当使用在电子显微镜,比人发可能评定功能基本构成细致一千次一台 X-射线仪器的发展期间做的创新被授予了。 这样功能对纳米技术世界是重要的。

这是 NanoAnalysis 部门获得的第五位女王的证书,并且第十三牛津仪器的编组所有。

设立四十年前在 High Wycombe,英国, NanoAnalysis 提供纳米技术工具的范围为电子和离子束显微镜的。 在这个证书援引的这个产品, X 最大,使我们的客户映射一个范例的化学成分与用十倍 nanometres 被测量的功能的 (毫微米是百万分之一分之一一毫米)。 应用包括半导体发展、材料学、可再造能源和辩论术。 用户包括最有名望的学院和企业环球。

X 最大创新意味着它快速地是十次比早先生成,它是更加敏感的,并且结果是更加准确的。 用户巨大改进他们的生产率,并且能测试在 nanoworld 的更小的地区。

伊恩 Barkshire,总经理 NanoAnalysis 博士,评论了, “从事在纳米技术边境,我们自豪我们开发了令人羡慕的名誉和最大的用户群在这个市场上。 是中意的我们的创新和商业成功由女王的证书委员会再认可了”。

Last Update: 23. April 2012 12:46

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