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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

牛津儀器獲得 SEM X-射線系統的有名望的獎

Published on April 23, 2012 at 11:32 AM

牛津儀器自豪地宣佈其 NanoAnalysis 分部獲得了企業有名望的女王的證書和創新的 2012年。

牛津儀器拿著獲得創新的女王的證書的 X 最大探測器的 NanoAnalysis 部門的伊恩 Barkshire 博士總經理。

此證書為在,當使用在電子顯微鏡,比人髮可能評定功能基本構成細致一千次一臺 X-射線儀器的發展期間做的創新被授予了。 這樣功能對納米技術世界是重要的。

這是 NanoAnalysis 部門獲得的第五位女王的證書,并且第十三牛津儀器的編組所有。

設立四十年前在 High Wycombe,英國, NanoAnalysis 提供納米技術工具的範圍為電子和離子束顯微鏡的。 在這個證書援引的這個產品, X 最大,使我們的客戶映射一個範例的化學成分與用十倍 nanometres 被測量的功能的 (毫微米是百萬分之一分之一一毫米)。 應用包括半導體發展、材料學、可再造能源和辯論術。 用戶包括最有名望的學院和企業環球。

X 最大創新意味著它快速地是十次比早先生成,它是更加敏感的,并且結果是更加準確的。 用戶巨大改進他們的生產率,并且能測試在 nanoworld 的更小的地區。

伊恩 Barkshire,總經理 NanoAnalysis 博士,評論了, 「從事在納米技術邊境,我們自豪我們開發了令人羨慕的名譽和最大的用戶群在這個市場上。 是中意的我們的創新和商業成功由女王的證書委員會再認可了」。

Last Update: 23. April 2012 12:46

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