Nanosurf Anuncia AFM Webinar para el Análisis Superficial del Examen y de Defecto

Published on April 24, 2012 at 4:25 AM

El Nanosurf LensAFM es un microscopio atómico de la fuerza (AFM) que se puede utilizar conjuntamente con casi cualquier microscopio óptico recto o rugosímetro óptico. El LensAFM combinado/la plataforma óptica proporciona a un sistema complementario de la proyección de imagen que amplíe grandemente la resolución y las capacidades de medición de estos instrumentos individuales.

El Nanosurf LensAFM.

Este webinar destacará:

  • Facilidad de la adaptación con las plataformas ópticas múltiples
  • Sinergia y conveniencia de combinar ópticas y de la información topográfica 3D en el mismo lugar
  • Ejemplos de las aplicaciones industriales que se han beneficiado de la plataforma combinada

Aplicaciones:

  • Mediciones de la Tosquedad, Análisis de Defecto, Radio del Borde, Alturas del Paso De Progresión
  • Propiedades Materiales: Endurecimiento, análisis del desgaste, Conductancia/Resistencia, Magnetismo

Quién Debe Asistir:

  • Profesionales, Representantes Técnicos, y Administración de la Garantía de Calidad
  • Ésos interesados en la prueba no destructiva
  • Personas de la Investigación y desarrollo
  • Estado Mayor Académico/Estudiantes

El Registro Libera en https://www4.gotomeeting.com/register/223072431

Conserve Por Favor la palabra de paso siguiente: Nsf*123. Será requerido para ensamblar el webinar.

Last Update: 24. April 2012 05:36

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