Arradiance 獲得二個專利折讓製造大區 Nanofilm 被激活的 MCP 探測器

Published on April 27, 2012 at 2:37 AM

卡梅倫柴

Arradiance 表示美國專利局允許索賠 nanofilm 技術利用率,包括基本層證言影片,作為在 (ALD)微通道放大作用設備的抗拒要素的二種基本專利應用。

這兩個允許的專利是專利 Arradiance 的投資組合的最新的成員包含此微通道板 (MCP) 生產技術的。 這家公司有基體獨立 MCP 一個 (IP)廣泛的知識產權投資組合。

Arradiance 的最近允許的專利著重功能 nanofilms。 這些導電性 nanofilms 是巨大的區檢測系統的啟用的技術和基體獨立的重要要素。 總之,這家公司有 10 個專利在此域,二個專利蓋子 nanofilm 激活應用的 MCP 技術需要像為活動檢測和圖像增強使用的那些的真空管檢測系統。

根據大衛比尤利, Arradiance 的業務執行責任者,二個最近允許的專利是保護的公司的有效大區 MCP 探測器製造最後部分。 給予專利的技術和大區玻璃血絲列陣牌照公司的投資組合的組合允許 MCP 基於探測器的設備的大量生產在一更加低價。 公司的最新的製造技術在許多關鍵應用允許高性能 MCP 設備使用,包括可能利用 nanofilm MCP 設備的高性能,低噪聲和延長的壽命的國土安全和醫療市場。

Arradiance 的總執行官,肯 Stenton 通過這些最近允許的專利聲明那,這家公司現在索賠 ALD 增長的 nanofilm 電子放射性和抗拒塗層的專利權 MCP 應用的。

來源: http://www.arradiance.com/

Last Update: 27. April 2012 03:24

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