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Posted in | Nanoanalysis

TSI Inc. NanoScan 在工作場所評定 Nanoparticles 的範圍和配電器

Published on May 15, 2012 at 4:42 PM

除非他們可以首先確定那裡是潛在問題,公司不可能保護工作者免受納米顆粒風險。 迄今,現有的納米顆粒範圍評定手段的範圍和費用是障礙對定期行業評定。 從合併的 TSI 的新的 NanoScan SMPS 納米顆粒 Sizer。 是被發展的一臺小,可移植的儀器提供一個價格合理的方法評定納米顆粒放射的大小分佈在這個工作場所和在研究設置。

納米技術是科學研究一個活動區域由於商務應用多種多樣。 然而,納米顆粒放射,生成從各種各樣的共源極,被認為一個潛在的室內/室外空氣質量危險等級。 小,輕量級和電池操作, NanoScan SMPS 提供實時納米顆粒範圍和濃度數據。 關於空中 nanoparticles 的大小分佈的信息可能幫助區分從放射來源的 nanoparticles 和背景在空氣中的懸浮粒子之間。

在職業性安全與衛生 (NIOSH) 對安全的納米技術的發行國家學院 『途徑: 管理健康與安全關心與設計的 Nanomaterials 相關』,比較微粒編號濃度和相對範圍在潛在的放射來源與背景微粒編號濃度和顆粒大小的一個納米顆粒放射評價技術被描述的工業衛生學家。 這幫助為確定現有的管理措施的效果提供方法和辯明對另外的管理措施的潛在的需要。

「NanoScan SMPS 提供對工作者風險感興趣的調查員不是以前提供的選項: 價格合理的納米顆粒範圍評定」,一位應用專家說 Kathy 埃里克森, TSI 的。 「範圍信息还產生他們一個部分這個難題,幫助區分潛在有害的設計的納米顆粒放射和自然發生的極其細小的微粒之間」。

NanoScan SMPS 為要求輕便的應用是特別有用的。 勞動衛生應用例如工作地點調查和點聲源確定或者研究應用像在路放射評定和現場研究將受益於儀器的緊縮設計和易用。 低價 NanoScan SMPS 與可比較的儀器也打開同時臨時和空間的評定的可能性與多個部件的。

關於 TSI 的 NanoScan SMPS 的更多信息,訪問: www.tsi.com/NanoScan

Last Update: 15. May 2012 17:39

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