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Las Antenas del AFM Sin la Capa del Oro Proporcionan a la Medición Estable de las Fuerzas de Picoscale

Published on June 29, 2012 at 7:38 AM

Por G.P. Thomas

Los Microscopios Atómicos de la Fuerza (AFM) están recubiertos normalmente con oro para mejorar la reflexión de la luz. Investigadores en JILA, el instituto común del National Institute of Standards and Technology (NIST) y la Universidad de Colorado Boulder, eliminada de la capa del oro de la antena y encontrada que la estabilidad y la precisión de las mediciones realizadas en un líquido mejoraron décuplo. El Líquido es el media preferido para la medición en el campo de la biofísica donde las células y la DNA se mantienen sumergida en líquido para replegar sus alrededores naturales.

La representación de Artitst de la Antena del AFM con y sin la capa del oro (Haber: Baxley/JILA)

La magnitud de fuerzas medidas en el nivel molecular es en el rango de pocos PicoNewtons (pN). En una medición típica, voladizo-como la antena del AFM asegura a la molécula y tira en ella. La desviación causada por este tirón se mide. Los voladizos Existentes se hacen del silicio con las caras recubiertas oro. Estaba durante el estudio de plegable y del despliegue de las moléculas de proteína durante períodos de segundos a los minutos que el físico Thomas Perkins del NIST y sus personas descubrieron que la capa del oro era responsable de la desviación de la fuerza. Perkins atribuye esto a la propiedad elástico demostrada por el oro cuando está empleada en instrumentos de alta precisión. Doblar el metal causa deslizamiento. Además, las propiedades mecánicas del oro están conforme al cambio debido al envejecimiento, el quebrarse del metal y también debido a las moléculas que se añaden al final del fichero al oro. Las personas de Perkin emplearon un baño químico para quitar la capa del oro del voladizo del AFM. El resultado era una reducción en el margen del desvío para las mediciones de la fuerza en líquidos a 0,5 pN en comparación con 5 a 10 pN de antenas recubiertas oro.

La técnica es aplicable a cualquier medición del AFM y a la mejoría observada en los huecos AFM de la sensibilidad a la liga de pinzas magnéticas y de desvíos ópticos.

Fuente: http://www.nist.gov

Last Update: 12. December 2013 17:03

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