解难题者光谱 SPM/Raman 系统获得 R&D 100 证书

Published on July 18, 2012 at 9:54 PM

NT-MDT Co. 自豪地宣布他们从 R&D 杂志 (美国) 获得了有名望的国际 R&D 100 证书。 这个证书由光谱的解难题者获得 - 在解难题者扫描探测显微镜平台的 (SPM)后期发展 - 在年的 TOP-100 重大的产品列表最技术上包括。

从 NT-MDT 的解难题者光谱 SPM/Raman 系统。

这家公司第四次获得其创新发展的国际识别! NTEGRA 光谱在 2006年获得了证书,在 2011年解难题者在 2009年其次赢取的,并且 NANOEDUCATOR II 是这个赢利地区。

解难题者光谱是扫描有喇曼分光仪的探测显微镜的综合化。 作为在新的解难题者平台解难题者光谱基础上的所有设备是非常方便运转中。 这意味着大多定期调整被自动化。 那么甚而无经验的运算符能执行大多评定迅速和容易地。

Last Update: 18. July 2012 22:50

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