解難題者光譜 SPM/Raman 系統獲得 R&D 100 證書

Published on July 18, 2012 at 9:54 PM

NT-MDT Co. 自豪地宣佈他們從 R&D 雜誌 (美國) 獲得了有名望的國際 R&D 100 證書。 這個證書由光譜的解難題者獲得 - 在解難題者掃描探測顯微鏡平臺的 (SPM)後期發展 - 在年的 TOP-100 重大的產品列表最技術上包括。

從 NT-MDT 的解難題者光譜 SPM/Raman 系統。

這家公司第四次獲得其創新發展的國際識別! NTEGRA 光譜在 2006年獲得了證書,在 2011年解難題者在 2009年其次贏取的,并且 NANOEDUCATOR II 是這個贏利地區。

解難題者光譜是掃描有喇曼分光儀的探測顯微鏡的綜合化。 作為在新的解難題者平臺解難題者光譜基礎上的所有設備是非常方便運轉中。 這意味著大多定期調整被自動化。 那麼甚而無經驗的運算符能執行大多評定迅速和容易地。

Last Update: 18. July 2012 22:50

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