AFM 和 Nanoscale 红外线分光学用于反向工程聚合物

Published on July 24, 2012 at 8:09 PM

最近发行在主要作者的分光学欧洲方面从 Kimberly Clark Corporation 显示了使用 AFM 聚合物多层膜反向工程的基于 nanoscale 红外线分光学。

基本强制显微镜 (AFM)是一个相当普遍的 nanoscale 描述特性技术,但是其主要缺点迄今是其无能力从范例的化学成分情报。 通过结合 AFM 与一个可调的红外 (IR)来源,与 nanoscale 空间分辨率的红外线光谱可以收集。 当在多层膜的胶片厚度继续收缩, AFM-IR 为范例分析提供一个重要功能。

根据主要作者, Kimberly Clark Corporation 的汤姆 Eby, “在红外线基础上的反向工程是一种重要应用在多数行业实验室,并且 AFM-IR 技术的空间分辨率突破现在启用此与亚显微功能的各种各样的材料的”。

本文题为 “聚合物 multilayers 反向工程使用基于 AFM 的 nanoscale 红外线分光学的,并且热分析”在分光学欧洲的 6 月号期刊被发布了。 作者使用 AFM-IR 和 nanoscale 热分析的组合得到红外波谱和转变温度在一个跨被区分的多层膜的每层。 从二个计量技术的组合他们能识别包括综合薄膜的六块层。

关于 Anasys 仪器

Anasys 仪器投入传送评定范例的有形资产与空间变化实际和化工属性在 nanoscale 的创新产品。 Anasys 引入在作早期工作在 nanoscale 热量属性评定的域的 2006 的纳诺 TA。 在 2010年, Anasys 引入作早期工作在 nanoscale 红外线评定的域的得奖的突破 nanoIR 平台。 现在,在 2012年 Anasys 自豪地引入突破洛仑兹力联络共鸣,作早期工作在多种频率的 nanomechanical 分光学的域。

Last Update: 24. July 2012 20:53

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