AFM 和 Nanoscale 紅外線分光學用於反向工程聚合物

Published on July 24, 2012 at 8:09 PM

最近發行在主要作者的分光學歐洲方面從 Kimberly Clark Corporation 顯示了使用 AFM 聚合物多層膜反向工程的基於 nanoscale 紅外線分光學。

基本強制顯微鏡 (AFM)是一個相當普遍的 nanoscale 描述特性技術,但是其主要缺點迄今是其無能力從範例的化學成分情報。 通過結合 AFM 與一個可調的紅外 (IR)來源,與 nanoscale 空間分辨率的紅外線光譜可以收集。 當在多層膜的膠片厚度繼續收縮, AFM-IR 為範例分析提供一個重要功能。

根據主要作者, Kimberly Clark Corporation 的湯姆 Eby, 「在紅外線基礎上的反向工程是一種重要應用在多數行業實驗室,并且 AFM-IR 技術的空間分辨率突破現在啟用此與亞顯微功能的各種各樣的材料的」。

本文題為 「聚合物 multilayers 反向工程使用基於 AFM 的 nanoscale 紅外線分光學的,并且熱分析」在分光學歐洲的 6 月號期刊被發布了。 作者使用 AFM-IR 和 nanoscale 熱分析的組合得到紅外波譜和轉變溫度在一個跨被區分的多層膜的每層。 從二個計量技術的組合他們能識別包括綜合薄膜的六塊層。

關於 Anasys 儀器

Anasys 儀器投入傳送評定範例的有形資產與空間變化實際和化工屬性在 nanoscale 的創新產品。 Anasys 引入在作早期工作在 nanoscale 熱量屬性評定的域的 2006 的納諾 TA。 在 2010年, Anasys 引入作早期工作在 nanoscale 紅外線評定的域的得獎的突破 nanoIR 平臺。 現在,在 2012年 Anasys 自豪地引入突破洛侖茲力聯絡共鳴,作早期工作在多種頻率的 nanomechanical 分光學的域。

Last Update: 24. July 2012 20:53

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