FEI Introduz Verios Novo SEM De alta resolução Extremo

Published on July 31, 2012 at 7:59 AM

Pela Vontade Soutter

FEI, um fornecedor de soluções da imagem lactente e da análise para a indústria e a pesquisa, estendeu seu domínio no mercado de alta resolução da microscopia de elétron (SEM) da exploração com a introdução do Verios XHR SEM.

Microscópio de Elétron da Exploração de Verios XHR

O Verios entrega a definição melhorada do contraste e do secundário-nanômetro medir exactamente materiais feixe-sensíveis em produção do semicondutor e em aplicações sofisticadas da ciência de materiais. É o sistema de segunda geração de linha provada do XHR SEM de FEI.

SEM Tradicional demonstra o mau desempenho t baixo quilovolt. Por outro lado, o sistema de Verios entrega a sensibilidade notável para o detalhe de superfície, agradecimentos a seus sistemas óticos avançados. Permite usuários de manter a pureza da amostra, de comutá-la ràpida entre condições de funcionamento diferentes, e de conseguir uma definição de secundário-nanômetro em uma escala de aceleração da tensão entre 1 e 30 quilovolts.

Além de entregar o desempenho de alta resolução notável, o Verios revela tecnologias novas da detecção. A combinação de capacidades de filtração sofisticadas e de coleção melhorada do sinal entrega não somente a geração do contraste mais-flexível e mais alto, mas igualmente permite-a para a análise de uma grande variedade de amostras. Assim, o sistema novo permite a observação altamente exacta do nanoscale de uma maioria de materiais não-condutores ou feixe-sensíveis sem nenhuma preparação.

Rudy Kellner, que serve como o Vice-presidente e o Director Geral para a Unidade de Negócios da Eletrônica de FEI, indicou que o Verios XHR SEM aumentam o tempo de SEM como o equipamento chave da metrologia em laboratórios controles de processos do semicondutor permitindo coordenadores executar medidas em materiais feixe-sensíveis e as estruturas que são muito pequenos para SEM tradicional. Com o software do IC3D da empresa, o Verios é uma ferramenta poderosa que seja capaz de fornecer medidas exactas aos processos do controle no nó da tecnologia do £ 22 nanômetro.

O Arroz de Trisha, o Vice-presidente e o Director Geral para a Unidade de Negócios da Ciência de Materiais de FEI, comentaram que o Verios permite cientistas de gravar as imagens de alto contraste, de alta resolução necessários sem transformar a TEM ou outras tecnologias imagiológicas.

Source: http://www.fei.com/

Last Update: 31. July 2012 09:16

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