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SIGMA HD FE-SEM del Lancio di Carl Zeiss a M&M 2012

Published on August 13, 2012 at 6:00 AM

La Microscopia di Carl Zeiss ha rivelato il loro Alto SIGMA HD del Microscopio Elettronico A Scansione Dell'Emissione di Campo della Definizione (FE-SEM) alla conferenza 2012 di Microanalisi & di Microscopia a Phoenix, Arizona. IL SIGMA HD offre i clienti di alta risoluzione, la rappresentazione veloce ed il percorso facile del campione per l'analisi dei dati del nanoscale oltre alla prestazione della serie stabilita di SIGMA.

IL SIGMA HD è stato introdotto alla serie di SIGMA come componente di un'espansione del portafoglio del FE-SEM della società. Comprende gli avanzamenti nell'elettronica, in rivelatori e nella progettazione della camera per risoluzione della rappresentazione piccola quanto un nanometro. È disponibile sia nell'alto vuoto che nel modo di funzionamento variabile di pressione. Per Concludere, una fase eucentric di 5 assi rende il percorso intorno anche ai grandi campioni facile facendo uso sia di movimento di traduzione che inclinato.

IL SIGMA HD offre le opzioni analitiche illimitate attraverso le porte diametralmente opposte della camera che facilitano il montaggio di due rivelatori di spettroscopia edx (EDS) per rilevazione massima di angolo solido. Nell'istanza dei campioni sensibili del raggio, questo permette le correnti basse della sonda di essere usato mentre il conteggio alto di mantenimento dei Raggi X valuta. La geometria favorevole accordata dalla progettazione della camera elimina gli effetti di ombreggiamento dei Raggi X.

Product Manager per la serie a Carl Zeiss, il Dott. Ben Tordoff di SIGMA, ha commentato, “Molti clienti ci hanno detto che c'è un'esigenza della combinazione la flessibilità analitica e della prestazione avanzata della rappresentazione. IL SIGMA HD è un'aggiunta importante al portafoglio che fornisce esattamente questi vantaggi per molti clienti.„

Last Update: 13. August 2012 06:51

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