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M&M 2012 年のカールツァイスの進水シグマ HD FE-SEM

Published on August 13, 2012 at 6:00 AM

カールツァイスの顕微鏡検査はフェニックス、アリゾナの顕微鏡検査及び微視的分析の会議 2012 年で高い定義フィールドの放出走査型電子顕微鏡 (FE-SEM) シグマ HD を明らかにしました。 シグマ HD は確立されたシグマシリーズのパフォーマンスに加えて、 nanoscale の analytics のための速いイメージ投射および容易なサンプル運行を高リゾリューション顧客提供します。

シグマ HD は会社の FE-SEM のポートフォリオの拡張の一部としてシグマシリーズにもたらされました。 それは 1 ナノメーター小さいイメージ投射解像度のための電子工学、探知器および区域デザインの前進を組み込みます。 それは高真空および可変的な圧力動作モード両方で使用できます。 最後に、 5 軸線の eucentric 段階は大きいサンプルのまわりで運行を翻訳のおよび傾けられた動きを使用して容易にします。

シグマ HD は最大立体角の検出のための 2 つのエネルギー分散 X 線分光学 (EDS) の探知器の土台を促進する正反対の区域ポートを通して無制限の分析的なオプションを提供します。 ビーム敏感なサンプルの例では、これは維持の高い X 線のカウントが評価する間低いプローブの流れが使用されるようにします。 区域デザインによる好ましい幾何学は X 線の尾行効果を除去します。

カールツァイスベン Tordoff 先生の、シグマシリーズのためのプロダクトマネージャーはコメントしましたあるように結合する、 「ための必要性が分析的な柔軟性および高度イメージ投射パフォーマンスを多くの顧客に私達が言われてあります。 シグマ HD は多くの顧客にこれらの利点を丁度提供するポートフォリオへです重要な付加」。

Last Update: 13. August 2012 06:51

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