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Posted in | Nanoanalysis

M&M 2012년에 칼 Zeiss 발사 시그마 HD FE-SEM

Published on August 13, 2012 at 6:00 AM

칼 Zeiss 현미경 검사법은 피닉스, 애리조나에서 현미경 검사법 & 미량 분석 회의 2012년에 그들의 높은 정의 필드 방출 스캐닝 전자 현미경 (FE-SEM) 시그마 HD를 제시했습니다. 시그마 HD는 설치한 시그마 시리즈의 성과 이외에, nanoscale analytics를 위한 단단 화상 진찰 및 쉬운 견본 항법을 고해상 고객 제안합니다.

시그마 HD는 회사의 FE-SEM 포트홀리로의 확장의 한 부분으로 시그마 시리즈에 소개되었습니다. 그것은 1개 나노미터 처럼 작은 화상 진찰 해결책을 위한 전자공학, 검출기 및 약실 디자인에 있는 어드밴스를 통합합니다. 그것은 높은 진공 및 변하기 쉬운 압력 작동 모드 둘 다에서 유효합니다. 마지막으로, 큰 견본 조차의 주위에 항법이 5 축선 eucentric 단계에 의하여 번역상기도 하고의 기운 운동을 사용하여 쉬운 시킵니다.

시그마 HD는 최대 입체각 탐지를 위한 2개의 에너지 흩어진 엑스레이 분광학 (EDS) 검출기의 설치를 촉진하는 완전히 반대이는 약실 포트를 통해서 무제한 분석적인 선택권을 제안합니다. 光速 과민한 견본의 경우에서는, 이것은 유지 높은 엑스레이 조사가 평가하는 하는 동안 낮은 탐사기 현재가 이용되는 것을 허용합니다. 약실 디자인에 의한 호의를 베푸는 기하학은 엑스레이 음영 효과를 삭제합니다.

칼 Zeiss 벤 Tordoff 박사에, 시그마 시리즈를 위한 생산 매니저는 논평했습니다 있다는 것을 결합, "를 위한 필요가 분석적인 융통성 및 향상된 화상 진찰 성과 많은 고객은 저희가 말해 있습니다. 시그마 HD는 많은 고객에게 이 이득을 정확하게 제공하는 포트홀리로에입니다 중요한 추가."

Last Update: 13. August 2012 06:52

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