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SIGMA HD FE-SEM do Lançamento de Carl Zeiss em M&M 2012

Published on August 13, 2012 at 6:00 AM

A Microscopia de Carl Zeiss revelou seu SIGMA Alto HD do Microscópio de Elétron da Exploração da Emissão de Campo da Definição (FE-SEM) na conferência 2012 da Microscopia & da Microanálise em Phoenix, o Arizona. O SIGMA HD oferece os clientes de alta resolução, a imagem lactente rápida e a navegação fácil da amostra para a analítica do nanoscale além do que o desempenho da série estabelecida do SIGMA.

O SIGMA HD foi introduzido à série do SIGMA como parte de uma expansão da carteira do FE-SEM da empresa. Incorpora avanços na eletrônica, nos detectores e no projecto da câmara para a definição da imagem lactente tão pequena quanto um nanômetro. Está disponível no vácuo alto e no modo variável da pressão de operação. Finalmente, uma fase eucentric de 5 linhas centrais faz a navegação em torno mesmo das grandes amostras fácil usando o movimento translational e inclinado.

O SIGMA HD oferece opções analíticas ilimitadas completamente diametralmente - oposto às portas da câmara que facilitam a montagem de dois detectores dispersivos da espectroscopia de Raio X da energia (EDS) para a detecção máxima do ângulo contínuo. No exemplo de amostras sensíveis do feixe, isto permite baixas correntes da ponta de prova ser usado enquanto a contagem alta de manutenção do Raio X avalia. A geometria favorável tida recursos para pelo projecto da câmara elimina efeitos de sombreamento do Raio X.

O Director de Produto para a série do SIGMA em Carl Zeiss, Dr. Ben Tordoff, comentou, “Muitos clientes têm-nos dito que há uma necessidade para combinar a flexibilidade analítica e desempenho avançado da imagem lactente. O SIGMA HD é uma adição importante à carteira que fornece exactamente estes benefícios para muitos clientes.”

Last Update: 13. August 2012 06:52

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