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Bruker 生成 PeakForce 凯尔文探测 AFMs 的强制显微学

Published on August 13, 2012 at 11:12 PM

Bruker 今天宣布了新的 PeakForce 凯尔文探测强制显微学模式的版本 (KPFM)基本强制显微镜其线路的 (AFMs)。 PeakForce KPFM 使用调频检测提供最高的空间分辨率凯尔文探测数据。

它在 Bruker 的独有的 PeakForce 开发的技术编译提供直接地关联的定量 nanomechanical 数据,改进调频评定区分并且消灭人工制品。 另外, PeakForce KPFM 提供被设置的一个完全地自动化的参数与 ScanAsyst。 这个结果是在定量表面潜在的数据的重大的改善为材料研究以及半导体应用。

“我们的研究和行业客户有对定量 nanoscale 属性评定的增长的需要”,标记 R. Munch, Ph.D 说。, Bruker 纳诺表面分部的总统。 “我们新的 PeakForce KPFM 模式与史无前例的区分结合前进在功函评定的空间分辨率和准确性”。

“我们做移动在想象对比之外的 AFM 向定量电子和机械性能映射”,被添加的大卫 V. Rossi,行政 Bruker 的 AFM 营业单位的副总裁和总经理。 “启用此预付款,我们在我们与 PeakForce QNM, PeakForce 金枪鱼和现在 PeakForce KPFM 的独有的 PeakForce 开发的技术编译”。

Last Update: 13. August 2012 23:33

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