Bruker 生成 PeakForce 凱爾文探測 AFMs 的強制顯微學

Published on August 13, 2012 at 11:12 PM

Bruker 今天宣佈了新的 PeakForce 凱爾文探測強制顯微學模式的版本 (KPFM)基本強制顯微鏡其線路的 (AFMs)。 PeakForce KPFM 使用調頻檢測提供最高的空間分辨率凱爾文探測數據。

它在 Bruker 的獨有的 PeakForce 開發的技術編譯提供直接地關聯的定量 nanomechanical 數據,改進調頻評定區分并且消滅人工製品。 另外, PeakForce KPFM 提供被設置的一個完全地自動化的參數與 ScanAsyst。 這個結果是在定量表面潛在的數據的重大的改善為材料研究以及半導體應用。

「我們的研究和行業客戶有對定量 nanoscale 屬性評定的增長的需要」,標記 R. Munch, Ph.D 說。, Bruker 納諾表面分部的總統。 「我們新的 PeakForce KPFM 模式與史無前例的區分結合前進在功函評定的空間分辨率和準確性」。

「我們做移動在想像對比之外的 AFM 向定量電子和機械性能映射」,被添加的大衛 V. Rossi,行政 Bruker 的 AFM 營業單位的副總裁和總經理。 「啟用此預付款,我們在我們與 PeakForce QNM, PeakForce 金槍魚和現在 PeakForce KPFM 的獨有的 PeakForce 開發的技術編譯」。

Last Update: 13. August 2012 23:33

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