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A Técnica de Imagem Lactente Nova do Raio X Aumentada pela Visão 3D Avança Nano, Pesquisa do Fotão

Published on August 16, 2012 at 3:32 AM

Pela Vontade Soutter

Os Cientistas do Fotão Avançado Source de Laboratório Nacional de Argonne e do Centro para Materiais de Nanoscale desenvolveram uma técnica de imagem lactente nova do Raio X que incorporasse o visualização 3D de uma superfície de material sem danificar a amostra sob o estudo.

A técnica de imagem lactente inovativa expande o espaço da pesquisa do raio X da nanotecnologia e da biologia e é uma combinação dos benefícios de características de alta resolução da imagem lactente coerente da difracção do Raio X (CDI) sem a lente e o visualização 3D de superfície facilitados pela dispersão da geometria do pastar-incidente.

As interacções atômicas que determinam as características e a eficácia de um nanostructure auto-montado ou de um produto de semicondutor baseado nanotecnologia ocorrem na maior parte a ou abaixo da superfície do material. No passado, os cientistas tiveram que depender dos modelos simulados para determinar a estrutura e a espessura de superfície, onde a confiança completa na integridade de tal medida estava faltando.

Os cientistas em Argonne permitiram a visão 3D da superfície usando a técnica nova manipulando o ângulo em que os Raios X dispersam fora do material da amostra. Empregando a geometria do pastar-incidente em vez da geometria convencional da transmissão do CDI, o teste padrão da dispersão foi usado para gerar uma imagem tridimensional sem recorrer à modelagem. Embora as técnicas de imagem lactente tradicionais do Raio X são capazes de produzir as imagens 3D, a definição da imagem é deficiente e a intensidade dos Raios X pode danificar as amostras.

Desde Que a técnica nova exige apenas um raio X curto formar a imagem, faz-lhe uma técnica desejável, não-destrutiva para a análise de amostras biológicas. Um Outro benefício chave da técnica nova é que o espaço da imagem lactente que usa o CDI pode ser aumentado do nanoscale à escala do milímetro se o Raio X é incidente em um ângulo de olhar na amostra. Esta técnica original permite pesquisadores de estender o comportamento a nível atômico ou molecular ao comportamento a nível do dispositivo.

Source: http://www.anl.gov/

Last Update: 16. August 2012 04:30

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