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Posted in | Microscopy

3D 查看提高的新的 X-射線成像技術提前納諾,光子研究

Published on August 16, 2012 at 3:32 AM

由意志 Soutter

從 Argonne 國家實驗室的提前的光子來源和中心的科學家 Nanoscale 材料開發了合併 3D 實質面形象化,无需損壞這個範例在研究下的新的 X-射線成像技術。

創新成像技術擴展納米技術和生物 X-射線研究的範圍并且是 X-射線連貫衍射想像的高分辨率特性的福利的組合 (CDI) sans 吃草事件幾何分散和 3D 表面形象化實現的透鏡。

確定自被彙編的 nanostructure 或納米技術基於半導體產品的特性和效果的基本交往主要發生在或在材料的表面之下。 以前,科學家必須取決於被模擬的設計確定表面結構和厚度,對這樣評定完整性的完全電話會議缺乏。

Argonne 的科學家啟用了 3D 表面的查看使用新的技術通過操作 X-射線分散範例材料的角度。 使用吃草事件幾何而不是常規 CDI 傳輸幾何,分散模式用於生成一個三維圖像,无需依靠到塑造。 雖然傳統 X-射線成像技術能够導致 3D 圖像,這個圖像的解決方法是差的,并且 X-射線的強度可能損壞範例。

因為新的技術要求短一個的 X-射線形成這個圖像,它做它對生物範例的分析的一個理想,非破壞性的技術。 新的技術的另一關鍵利益是想像的範圍使用 CDI 的可以從 nanoscale 增加到毫米縮放比例,如果 X-射線是事件在這個範例的一個粗略的角度。 此唯一技術使研究員擴大這個工作情況在基本或分子級別對工作情況在設備級別。

來源: http://www.anl.gov/

Last Update: 16. August 2012 04:28

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