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专业半导体供应商获得多个 Bruker ContourGT-X 3D 光学显微镜

Published on August 31, 2012 at 10:06 AM

G.P. 托马斯

Bruker 报道主要半导体供应商为位于北美和亚洲的其包装的设施获得了多个 Bruker ContourGT-X 3D 光学显微镜帮助铜丝债券检验和程序控制的需求。

ContourGT-X8 3D 光学显微镜系统

ContourGT-X 的生产级的速度、容易使用和自定义生产界面的组合减少生产费用并且解决有对半导体行业的重大影向的重要问题,当它从高费用基于金的进程转移到基于铜的进程。

Bruker 纳诺表面部门总裁,标记 R. Munch 阐明,铜有更多坚硬,并且更多易碎性,当与金子比较,因而它是重要的准确地监控确切的力量将适用于连接这个彀子到程序包线索框架或基体的债券。 此多个系统顺序显示出,稳健数据分析、容易使用和自动化的运行时计量学的组合考虑作为一个理想的解决方法保存材料,进程,并且在铜丝的人工费用结合鉴定。

Rob Loiterman,行政副总裁和总经理 Bruker 的铁笔和光学计量学商业的,阐明,除有以外内在的 3D 光学计量学福利, ContourGT-X 有实现几个其他的功能电汇接合应用。 例如,做通过批次/检验 ID、材料 ID 或者运算符 ID 自动地被连接的特定处方线路工程师是可能的。 这些软件控制在实时启用准确确定和标记坏和好产品,因而允许客户保证他们的产品一贯性除获得铜的低价的好处之外。

来源: http://www.bruker.com

Last Update: 12. December 2013 23:07

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