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Posted in | Microscopy

專業半導體供應商獲得多個 Bruker ContourGT-X 3D 光學顯微鏡

Published on August 31, 2012 at 10:06 AM

G.P. 托馬斯

Bruker 報道主要半導體供應商為位於北美和亞洲的其包裝的設施獲得了多個 Bruker ContourGT-X 3D 光學顯微鏡幫助銅絲債券檢驗和程序控制的需求。

ContourGT-X8 3D 光學顯微鏡系統

ContourGT-X 的生產級的速度、容易使用和自定義生產界面的組合減少生產費用并且解決有對半導體行業的重大影向的重要問題,當它從高費用基於金的進程轉移到基於銅的進程。

Bruker 納諾表面部門總裁,標記 R. Munch 闡明,銅有更多堅硬,并且更多易碎性,當與金子比較,因而它是重要的準確地監控確切的力量將適用於連接這個彀子到程序包線索框架或基體的債券。 此多個系統順序顯示出,穩健數據分析、容易使用和自動化的運行時計量學的組合考慮作為一個理想的解決方法保存材料,進程,并且在銅絲的人工費用結合鑒定。

Rob Loiterman,行政副總裁和總經理 Bruker 的鐵筆和光學計量學商業的,闡明,除有以外內在的 3D 光學計量學福利, ContourGT-X 有實現幾個其他的功能電匯接合應用。 例如,做通過批次/檢驗 ID、材料 ID 或者運算符 ID 自動地被連接的特定處方線路工程師是可能的。 這些軟件控制在實時啟用準確確定和標記壞和好產品,因而允許客戶保證他們的產品一貫性除獲得銅的低價的好處之外。

來源: http://www.bruker.com

Last Update: 12. December 2013 23:08

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