Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions

Microscoop van de Kracht van het Pictogram van de Afmeting van Bruker de Atoom die door NSG Groep wordt Geselecteerd

Published on September 25, 2012 at 5:57 AM

Afdeling van de Oppervlakten van Bruker heeft Nano (Kerstman Barbara, CA) een Microscoop van de Kracht van het Pictogram van de Afmeting Atoom aan (AFM) het Europese Technische Centrum (Lathom, het UK) van de globale NSG van de glasfabrikant Groep verscheept.


Het systeem van het Pictogram van de Afmeting is uitgerust met Wijze van de Weergave ScanAsyst van Bruker de de zelf-optimaliseert en module van de TONIJN PeakForce om een ongekende handigheid in geleidingsvermogenafbeelding en andere moeilijke materialenkarakterisering toe te laten.

„Na een grondig overzicht van beschikbare instrumentatie, waren wij zeker van de resolutie, de mogelijkheden AFM en de prestaties op lange termijn van dit recentste instrument van Bruker, om onze vroegere uitstekende MultiMode AFM“ bovengenoemde Keith Arnold, de Microscopie en de Analyse van de Oppervlakte te vervangen, van NSG Groep. Het „potentieel voor hogere productie is ontsloten met Pictogram en TONIJN PeakForce en wij zijn pleased met de opties hun huidige product nu aanbiedingen, in het bijzonder voor ons geavanceerde materialenO&O“

Het „Pictogram van de Afmeting is eerste makkelijk te gebruiken en high-resolution, groot-steekproef AFM verklaarde die specifiek wordt de ontworpen om op de atoombehoeften van de krachtmicroscopie van zowel het onderzoeklaboratorium als industriële toepassingen gericht te zijn,“ David Rossi, Uitvoerende Ondervoorzitter en Algemene Manager van de Eenheid van AFM van Bruker. „De TONIJN PeakForce en de rest van onze nieuwe reeks van producten bouwen op de stichting van het Onttrekken van PeakForce en wijzen ScanAsyst voort om niet destructieve en artefact-vrije nanoelectrical en elektrochemische karakterisering in de het groeien arena van toekomstige van de energiegeneratie en opslag materialen te verstrekken.“

Ongeveer het Pictogram van de Afmeting:

Het Pictogram van de Afmeting met ScanAsyst brengt nieuwe niveaus van prestaties, functionaliteit, en toegankelijkheid AFM aan nanoscaleonderzoekers in wetenschap en de industrie. Bouwend op het meest gebruikte de groot-steekproefAFM platform van de wereld, is het systeem van het Pictogram het hoogtepunt van decennia van technologische innovatie, koppelt de klant en industrie-leidende toepassingsflexibiliteit terug. Het is ontworpen van boven tot onder om revolutionaire lage afwijking te leveren en met geringe geluidssterkte die gebruikers toestaat om artefact-vrije beelden te bereiken in notulen in plaats van uren, toelatend verhoogde productiviteit.

Voor meer info:
productinfo@bruker-nano.com
www.bruker-axs.com

Last Update: 25. September 2012 06:21

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit