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Posted in | Nanoanalysis

Feixe Duplo FIB/SEM de FEI Versa 3D Agora Com o Elétron Patenteado Source de UniColore

Published on September 26, 2012 at 5:46 AM

Empresa de FEI (NASDAQ: FEIC), uma empresa principal da instrumentação que fornece os sistemas da imagem lactente e de análise para a pesquisa e a indústria, anunciados hoje que adicionou UniColore patenteado (UC) monochromated a fonte do elétron a seu sistema versátil de Versa 3D™ DualBeam™.

Sistema de Versa 3D™ DualBeam™ FIB/SEM de FEI.

A tecnologia do UC melhora a capacidade do DualBeam ao detalhe da superfície da multa da imagem em baixas tensões de aceleração sem comprometer seu desempenho analítico em tensões e em correntes altas do feixe.

“Versa 3D é agora o único DualBeam para combinar o desempenho de baixa voltagem da imagem lactente de uma fonte monochromated de FEG com a versatilidade e a acessibilidade de uma lente objetiva da não-imersão,” Andre indicado Mijiritskii, marketing de produto do director para SEM e DualBeams, Unidade de Negócios da Ciência de Materiais de FEI. “Em conseqüência, pode fornecer imagens de alta resolução do detalhe da superfície da multa na escala a mais larga dos espécimes, os materiais incluir não-condutores, magnéticos e do luz-elemento, e grandes ou amostras dadas forma impares. O mesmo instrumento pode fornecer as altas correntes e tensões necessários para a análise rápida, precisa. A lente da não-imersão executa bem em umas distâncias de funcionamento mais longas que sejam particularmente valiosas para a análise e procedimentos automatizados, tais como preparação a fatia e a reconstrução 3D e da amostra de série de TEM.”

A fonte do UC melhora dramàtica a definição da imagem lactente em baixas tensões de aceleração diminuindo a energia espalhada entre elétrons do feixe, que reduz a aberração cromática e permite o feixe ser centrada em um ponto menor sobre a superfície da amostra. Dado um ponto suficientemente pequeno, a definição de imagem e a sensibilidade surgir o detalhe são aumentadas mais em baixas tensões do feixe pela redução da penetração e da dispersão de feixe. A imagem lactente De Baixa Voltagem pode igualmente eliminar os efeitos cobrando que interferem com a imagem lactente em materiais não-condutores.

O Versa 3D DualBeam é projectado com uma plataforma alto-configurável permitir que os clientes adaptem as capacidades de sistema a suas exigências específicas. O vácuo Alto, o baixo vácuo e as opções ambientais da microscopia de elétron (ESEM) da exploração fornecem a cobertura da escala a mais larga de tipos e de aplicações da amostra.

O Versa 3D DualBeam com fonte monochromated UC patenteada do elétron está disponível agora para pedir. O desempenho do monocromador do UC está igualmente disponível no Microscópio de Elétron da Transmissão do Titan™ de FEI, no Microscópio de Elétron De alta resolução Extremo da Exploração de Magellan™, e em Helios NanoLab™ DualBeam™. Para mais informação, visite por favor o Web site de FEI.

Last Update: 26. September 2012 06:54

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