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Los Investigadores Utilizan la Espectroscopia Infrarroja AFM-Basada para la Caracterización de Nanostructure del Polímero

Published on October 11, 2012 at 5:50 AM

la identificación NanotecnologÃa-Basada de los materiales activa la metrología química crítico necesaria para la nano-fabricación

La Espectroscopia Infrarroja del Microscopio Atómico de la Fuerza es una técnica nanotecnologÃa-basada de la identificación de los materiales (haber: Universidad de Illinois en el Urbana-Chamán)

Uno de los logros dominantes de la era de la nanotecnología es el revelado de las tecnologías de fabricación que pueden fabricar los nanostructures formados de los materiales múltiples. Tal integración de la nanómetro-escala de materiales compuestos ha activado innovaciones en dispositivos electrónicos, células solares, y diagnósticos médicos.

Mientras Que ha habido descubrimientos importantes en la nano-fabricación, ha habido mucho menos progreso en cuanto a las tecnologías de la medición que pueden proporcionar a la información sobre los nanostructures hechos de los materiales integrados múltiples. Los Investigadores en el Urbana-Chamán de la Universidad de Illinois y Anasys Instruments Inc. ahora señalan las nuevas herramientas diagnósticas que pueden utilizar la nano-fabricación punta.

“Hemos utilizado la espectroscopia infrarroja basada microscopio atómico de la fuerza (AFM-IR) para caracterizar nanostructures del polímero y los sistemas de nanostructures integrados del polímero,” dijo el Rey de Guillermo, la Universidad del Profesor de la Dicha de la Ingeniería en el Departamento de la Ciencia Mecánica y la Ingeniería en el Urbana-Chamán de la Universidad de Illinois. “En esta investigación, hemos podido químicamente analizar las líneas del polímero tan pequeñas como 100 nanómetro. Podemos también distinguir sin obstrucción diversos polímeros nanopatterned usando sus espectros de amortiguación infrarroja según lo obtenido por la técnica de AFM-IR.”

En AFM-IR, un laser infrarrojo rápidamente (IR) pulsado se dirige conectado sobre una muestra fina que absorba la luz del IR y experimente la extensión termomecánica rápida. Una punta del AFM en contacto con el nanostructure del polímero resuena en respuesta a la extensión, y esta resonancia es medida por el AFM.

“Mientras Que los nanotechnologists han estado interesados de largo en la fabricación de nanostructures integrados, han sido limitados por la falta de herramientas que pueden determinar la composición material en la escala del nanómetro.” Craig dicho Prater, co-autor en el estudio y el oficial de la tecnología del jefe de Anasys Instruments Inc. “La técnica de AFM-IR ofrece la capacidad única para correlacionar simultáneamente la morfología del nanoscale y para realizar análisis químico en el nanoscale.”

Fuente: http://engineering.illinois.edu/

Last Update: 11. October 2012 06:25

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