Site Sponsors
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

There is 1 related live offer.

5% Off SEM, TEM, FIB or Dual Beam

Les Chercheurs Utilisent la Spectroscopie Infrarouge AFM-Basée pour la Caractérisation de Nanostructure de Polymère

Published on October 11, 2012 at 5:50 AM

l'identification Nanotechnologie-Basée de matériaux active la métrologie chimique en critique nécessaire pour la nano-fabrication

La Spectroscopie Infrarouge de Microscope Atomique de Force est une technique nanotechnologie-basée d'identification de matériaux (crédit : Université de l'Illinois au l'Urbana-Champagne)

Un des accomplissements principaux de l'ère de nanotechnologie est le développement des technologies manufacturières qui peuvent fabriquer des nanostructures formés des matériaux multiples. Une Telle intégration de nanomètre-échelle des matériaux composites a activé des innovations dans les appareils électroniques, les piles solaires, et les diagnostics médicaux.

Tandis Qu'il y a eu des percées significatives à la nano-fabrication, il y a eu beaucoup moins de progrès sur les technologies de mesure qui peuvent fournir des informations au sujet des nanostructures effectués à partir des matériaux intégrés multiples. Les Chercheurs au l'Urbana-Champagne d'Université de l'Illinois et l'Anasys Instruments Inc. enregistrent maintenant les outils de diagnostic neufs qui peuvent supporter la nano-fabrication tranchante.

« Nous avons employé la spectroscopie infrarouge basée de microscope atomique de force (AFM-IR) pour caractériser des nanostructures de polymère et des systèmes des nanostructures intégrés de polymère, » a dit le Roi de William, Professeur de Bonheur d'Université de l'Ingéniérie dans le Service du Scientifique et Technique Mécanique au l'Urbana-Champagne d'Université de l'Illinois. « Dans cette recherche, nous avons pu analyser chimiquement des lignes de polymère aussi petites que 100 nanomètre. Nous pouvons également de manière dégagée discerner différents polymères nanopatterned utilisant leurs spectres d'absorption infrarouge comme obtenu par la technique d'AFM-IR. »

Dans AFM-IR, un laser rapidement pulsé (IR) d'infrared est dirigé en circuit sur un échantillon mince qui absorbe la lumière d'IR et subit l'extension thermomécanique rapide. Une extrémité d'AFM en contact avec le nanostructure de polymère résonne en réponse à l'extension, et cette résonance est mesurée par l'AFM.

« Tandis Que des nanotechnologists ont été longtemps intéressés à la fabrication des nanostructures intégrés, ils ont été limités par le manque d'outils qui peuvent recenser la composition matérielle à l'échelle de nanomètre. » ledit Craig Prater, co-auteur sur l'étude et le responsable d'officier de technologie d'Anasys Instruments Inc. « La technique d'AFM-IR offre la seule capacité pour tracer simultanément la morphologie de nanoscale et pour effectuer l'analyse chimique au nanoscale. »

Source : http://engineering.illinois.edu/

Last Update: 11. October 2012 06:23

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit