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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

I Ricercatori Usano la Spettroscopia Infrarossa AFM Basata per la Caratterizzazione di Nanostructure del Polimero

Published on October 11, 2012 at 5:50 AM

all'l'identificazione Basata a nanotecnologia dei materiali permette alla metrologia chimica criticamente necessaria per nano-fabbricazione

La Spettroscopia Infrarossa del Microscopio Atomico della Forza è ad una tecnica basata a nanotecnologia dell'identificazione dei materiali (credito: Università dell'Illinois aUrbana-Champagne)

Uno dei risultati chiave dell'era di nanotecnologia è lo sviluppo delle tecnologie di fabbricazione che possono da costruzione i nanostructures formati dai materiali multipli. Tale integrazione del nanometro-disgaggio dei materiali compositi ha permesso alle innovazioni negli apparecchi elettronici, nelle pile solari e nei sistemi diagnostici medici.

Mentre ci sono stati le innovazioni significative nella nano-fabbricazione, c'è stato molto meno progresso sulle tecnologie di misura che possono fornire informazioni sui nanostructures fatti dai materiali integrati multipli. I Ricercatori all'Università dell'Illinois Urbana-Champagne ed Anasys Instruments Inc. ora riferiscono i nuovi strumenti diagnostici che possono supportare la nano-fabbricazione di avanguardia.

“Abbiamo usato la spettroscopia infrarossa basata microscopio atomico della forza (AFM-IR) per caratterizzare i nanostructures del polimero e sistemi dei nanostructures integrati del polimero,„ ha detto Re di William, il Professor di Beatitudine della Facoltà di Ingegneria nel Dipartimento di Scienza e di Assistenza Tecnica Meccaniche al Urbana-Champagne dell'Università dell'Illinois. “In questa ricerca, abbiamo potuti chimicamente analizzare le righe del polimero piccole quanto 100 nanometro. Possiamo anche distinguere chiaramente i polimeri nanopatterned differenti facendo uso dei loro spettri di assorbimento dell'infrarosso come ottenuto dalla tecnica di AFM-IR.„

In AFM-IR, un laser rapido pulsato (IR) di infrarosso è diretto sopra sopra un campione sottile che assorbe l'indicatore luminoso di IR e subisce l'espansione termomeccanica rapida. Un suggerimento del AFM in contatto con il nanostructure del polimero risuona in risposta all'espansione e questa risonanza è misurata dal AFM.

“Mentre i nanotechnologists lungamente si sono interessati alla fabbricazione dei nanostructures integrati, sono stati limitati dalla mancanza di strumenti che possono identificare la composizione materiale al disgaggio di nanometro.„ Craig Prater, co-author detto sullo studio e sull'ufficiale della tecnologia del capo di Anasys Instruments Inc. “La tecnica di AFM-IR offre la capacità unica per mappare simultaneamente la morfologia del nanoscale e per eseguire l'analisi chimica al nanoscale.„

Sorgente: http://engineering.illinois.edu/

Last Update: 11. October 2012 06:23

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