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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

研究者はポリマー Nanostructure の性格描写のために AFM ベースの赤外線分光学を使用します

Published on October 11, 2012 at 5:50 AM

ナノテクノロジーベースの材料の識別は nano 製造業のための批判的に必要な化学度量衡学を可能にします

原子力の顕微鏡の赤外線分光学はナノテクノロジーベースの材料の識別技術 (信用です: アーバナ平原のイリノイ大学)

ナノテクノロジー時代の主達成の 1 つは多重材料から形作られる nanostructures を製造できる製造技術の開発です。 複合材料のそのようなナノメータースケールの統合は電子デバイス、太陽電池および医学の診断の革新を可能にしました。

nano 製造業に重要な進歩の間、大いに多重統合された材料から作られる nanostructures についての情報を提供できる測定の技術により少ない進歩がずっとあります。 アーバナ平原イリノイ大学の研究者は Anasys Instruments Inc. 今最先端の nano 製造業をサポートできる新しい診察道具を報告し。

「私達は原子ポリマー nanostructures を特徴付けるのに力の顕微鏡によって基づく赤外線分光学 (AFM-IR) を使用し、統合されたポリマー nanostructures のシステム」、アーバナ平原イリノイ大学で機械科学の部門の工学至福教授のウィリアム王、大学および工学を言いました。 「この研究に、私達は化学的に 100 ずっと nm 小さいポリマーラインを分析できます。 私達はまた AFM-IR の技術によって得られるように赤外線吸収スペクトルを使用してはっきり異なった nanopatterned ポリマーを区別してもいいです」。

AFM-IR では、急速に脈打った赤外線 (IR)レーザーは IR ライトを吸収し、急速な加工熱の拡張を経る薄いサンプルに指示されます。 ポリマー nanostructure と接触する AFM の先端は拡張に応じて共鳴し、この共鳴は AFM によって測定されます。

「nanotechnologists が統合された nanostructures の製造業に長く興味を起こさせられる間、ナノメーターのスケールで」。物質的な構成を識別できるツールの欠乏によって限定されました 前述のクレイグ Prater、 Anasys Instruments Inc. の調査そして責任者の技術の将校の共著者は 「AFM-IR の技術提供します同時に nanoscale の形態をマップし、 nanoscale で化学分析を行うために一義的な機能を」。

ソース: http://engineering.illinois.edu/

Last Update: 11. October 2012 06:23

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