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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis
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研究員為聚合物 Nanostructure 描述特性使用基於 AFM 的紅外分光學

Published on October 11, 2012 at 5:50 AM

基於納米技術的材料確定啟用緊要地納諾製造的需要的化工計量學

基本強制顯微鏡紅外分光學是一個基於納米技術的材料確定技術 (赊帳: 伊利諾伊大學爾般那平原的)

其中一個納米技術時代的關鍵成績是的製造技術發展可能製造從多個材料形成的 nanostructures。 合成材料的這樣毫微米縮放比例綜合化啟用了在電子設備、太陽能電池和醫療診斷的創新。

當有重大的突破在納諾製造中時,有在可能關於由多個集成材料做的 nanostructures 的情報的評定技術的較少進展。 伊利諾伊大學的研究員爾般那平原和 Anasys Instruments Inc. 現在報告可能支持最尖端的納諾製造的新的診斷工具。

「我們使用基本強制顯微鏡基於紅外分光學 (AFM-IR) 分析聚合物 nanostructures,并且集成聚合物 nanostructures 系統」,在伊利諾伊大學爾般那平原學院和工程說威廉國王、工程機械科學的部門的極樂教授。 「在此研究,我們能化工分析聚合物線路一樣小像 100 毫微米。 我們可以明顯地也區分不同的 nanopatterned 聚合物使用他們的紅外吸收光譜如獲得由 AFM-IR 技術」。

在 AFM-IR,迅速地搏動的紅外 (IR)激光處理在吸收紅外線光并且進行迅速熱機的擴展的一個稀薄的範例。 與聚合物 nanostructure 聯繫的一個 AFM 技巧共鳴以回應擴展,并且此共鳴由 AFM 評定。

「當 nanotechnologists 長期感興趣對集成 nanostructures 時製造,他們由可能識別物質構成在毫微米縮放比例的缺乏工具限制了」。 前述克雷格 Prater, Anasys Instruments Inc. 的研究和院長技術軍官的共同執筆者 「AFM-IR 技術提供唯一功能同時映射 nanoscale 形態學和執行化學分析在 nanoscale」。

來源: http://engineering.illinois.edu/

Last Update: 11. October 2012 06:22

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