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Metrología Química Crítico Necesaria Activada Por AFM-IR

Published on October 16, 2012 at 12:08 PM

Los Instrumentos de Anasys señalan sobre la investigación común con la Universidad del Departamento de Illinois de la Ingeniería dónde la identificación nanotecnologÃa-basada de los materiales activa la metrología química crítico necesaria para la nano-fabricación.

Diagrama Esquemático para ilustrar AFM-IR para estudiar nanostructures del polímero

Uno de los logros dominantes de la era de la nanotecnología es el revelado de las tecnologías de fabricación que pueden fabricar los nanostructures formados de los materiales múltiples. Tal integración de la nanómetro-escala de materiales compuestos ha activado innovaciones en dispositivos electrónicos, células solares, y diagnósticos médicos.

Mientras Que ha habido descubrimientos importantes en la nano-fabricación, ha habido mucho menos progreso en cuanto a la metrología de los nanostructures hechos de los materiales integrados múltiples. Los Investigadores en el Urbana-Chamán de la Universidad de Illinois y Anasys Instruments Inc. ahora señalan las nuevas herramientas diagnósticas que pueden utilizar la nano-fabricación punta.

“Hemos utilizado la espectroscopia infrarroja microscopio-basada fuerza atómica (AFM-IR) para caracterizar nanostructures del polímero y los sistemas de nanostructures integrados del polímero,” dijo el Rey de Guillermo, la Universidad del Profesor de la Dicha de la Ingeniería en el Departamento de la Ciencia Mecánica y la Ingeniería en el Urbana-Chamán de la Universidad de Illinois. “En esta investigación, hemos podido químicamente analizar las líneas del polímero tan pequeñas como 100 nanómetro. Podemos también distinguir sin obstrucción diversos polímeros nanopatterned usando sus espectros de amortiguación infrarroja según lo obtenido por la técnica de AFM-IR.”

En AFM-IR, un laser infrarrojo rápidamente (IR) pulsado se dirige conectado sobre una muestra fina que absorba la luz del IR y experimente la extensión termomecánica rápida. Una punta del AFM en contacto con el nanostructure del polímero resuena en respuesta a la extensión, y esta resonancia es medida por el AFM. (véase el diagrama esquemático abajo).

“Mientras Que los nanotechnologists han estado interesados de largo en la fabricación de nanostructures integrados, han sido limitados por la falta de herramientas que pueden determinar la composición material en la escala del nanómetro. el "" dijo a Craig Prater, co-autor en el estudio y el Oficial de la Tecnología del Jefe de Anasys Instruments Inc. “La técnica de AFM-IR ofrece la capacidad única para correlacionar simultáneamente la morfología y para realizar análisis químico en el nanoscale.”

Se titula el papel, la “Espectroscopia Infrarroja de la Nanómetro-Escala del Polímero Heterogéneo Nanostructures Fabricado por la Nanofabricación Punta-Basar.” Los autores son Fieltros de Jonatán y Rey de Guillermo del Urbana-Chamán de la Universidad de Illinois y Kevin Kjoller, Michael Lo, y Craig Prater de Anasys Instruments Inc.

La investigación fue publicada este mes en ACS Nano. Es accesible en línea en DOI: 10.1021/nn302620f. La investigación fue patrocinada por el Defense Advanced Research Projects Agency, la Oficina de la Fuerza aérea de la Investigación Científica, y el Ministerio de Energía.

Para más información, haga contacto con por favor al Profesor Rey, (217) 244-3864 o vía correo electrónico en wpk@illinois.edu.

Last Update: 16. October 2012 12:34

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