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Posted in | Nanomaterials

AFM-IR에 의해 가능하게 되는 중요하게 필요한 화학 도량형학

Published on October 16, 2012 at 12:08 PM

Anasys 계기는 기술설계의 부 일리노이 주립 대학교를 가진 합동 연구에 나노 과학 기지를 둔 물자 식별이 nano 제조를 위한 중요하게 필요한 화학 도량형학을 어디에 가능하게 하는지 보고합니다.

중합체 nanostructures를 공부하기 위하여 AFM-IR를 설명하는 개략도

나노 과학 시대의 중요한 공적의 한개는 다중 물자에서 형성된 nanostructures를 날조할 수 있는 제조 기술의 발달입니다. 복합 재료의 그 같은 나노미터 가늠자 통합은 전자 장치, 태양 전지 및 의학 진단에 있는 혁신을 가능하게 했습니다.

nano 제조에 있는 중요한 돌파구가 동안, 매우 다중 통합 물자에게서 만들어진 nanostructures의 도량형학에 더 적은 진도가 계속 있습니다. 얼바나 평야 일리노이 주립 대학교에 연구원은 지금 Anasys Instruments Inc. 최첨단 nano 제조를 지원할 수 있는 새로운 진단 기구를 보고하고.

"우리는 원자 군대에 의하여 현미경 기지를 둔 적외선 중합체 nanostructures를 성격을 나타내기 위하여 분광학 (AFM-IR)를 이용하고 통합 중합체 nanostructures의 시스템," 얼바나 평야 일리노이 주립 대학교에 기계적인 과학의 부에 있는 기술설계 행복 교수의 윌리엄 임금, 대학 및 기술설계를 말했습니다. "이 연구에서, 우리는 화학적으로 100 계속 nm 만큼 작은 중합체 선을 분석할 수 있습니다. 우리는 또한 AFM-IR 기술에 의해 장악되는 것과 같이 그들의 적외선 흡수 스펙트럼을 사용하여 명확하게 다른 nanopatterned 중합체를 구별해서 좋습니다."

AFM-IR에서는, 급속하게 맥박이 뛴 적외선 (IR) 레이저는 IR 빛을 흡수하고 급속한 thermomechanical 확장을 겪는 얇은 견본에 위에 지시됩니다. 중합체 nanostructure와 접촉하여 AFM 끝은 확장에 응하여 공진하고, 이 공명은 AFM에 의해 측정됩니다. (아래에 개략도를 보십시오).

"nanotechnologists가 통합 nanostructures의 제조에 오래 관심 있는 동안, 나노미터 가늠자에 물자 구성을 확인할 수 있는 공구의 부족에 의해 제한되었습니다. ""는 Craig Prater, 연구 결과에 공동 저자를 밝히고 Anasys Instruments Inc.의 장 기술 장교는 "AFM-IR 기술 제안합니다 유일한 동시에 형태학을 지도로 나타내고 nanoscale에 화학 분석을 능력을 발휘하기 위하여 기능을."

서류는 표제가 붙습니다, "끝 기지를 두 Nanofabrication에 의해 날조된 이질적인 중합체 Nanostructures의 나노미터 가늠자 적외선 분광학." 저자는 얼바나 평야 일리노이 주립 대학교의 요나단 펠트 그리고 윌리엄 임금 및 Kevin Kjoller, 마이클 Lo, 및 Anasys Instruments Inc.의 Craig Prater입니다.

연구는 Nano ACS에서 이달에 간행되었습니다. 그것은 DOI에 온라인에 사용 가능합니다: 10.1021/nn302620f. 연구는 과학적인 연구의 방위 알파 통신망, 공군 사무실, 및 자원부에 의해 후원되었습니다.

추가 정보를 위하여, wpk@illinois.edu에 전자 우편을 통해 교수 임금, (217) 244-3864에게 또는 연락하십시오.

Last Update: 16. October 2012 12:34

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