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紧要地 AFM-IR 启用的需要的化工计量学

Published on October 16, 2012 at 12:08 PM

Anasys 仪器报告关于与伊利诺伊大学的联合研究工程的部门基于纳米技术的材料确定哪里启用紧要地纳诺制造的需要的化工计量学。

说明 AFM-IR 的概要学习聚合物 nanostructures

其中一个纳米技术时代的关键成绩是的制造技术发展可能制造从多个材料形成的 nanostructures。 合成材料的这样毫微米缩放比例综合化启用了在电子设备、太阳能电池和医疗诊断的创新。

当有重大的突破在纳诺制造中时,有在多个集成材料做的 nanostructures 计量学的较少进展。 伊利诺伊大学的研究员尔般那平原和 Anasys Instruments Inc. 现在报告可能支持最尖端的纳诺制造的新的诊断工具。

“我们使用基本强制基于显微镜的红外分光学 (AFM-IR) 分析聚合物 nanostructures,并且集成聚合物 nanostructures 系统”,在伊利诺伊大学尔般那平原学院和工程说威廉国王、工程机械科学的部门的极乐教授。 “在此研究,我们能化工分析聚合物线路一样小象 100 毫微米。 我们可以明显地也区分不同的 nanopatterned 聚合物使用他们的红外吸收光谱如获得由 AFM-IR 技术”。

在 AFM-IR,迅速地搏动的红外 (IR)激光处理在吸收红外线光并且进行迅速热机的扩展的一个稀薄的范例。 与聚合物 nanostructure 联系的一个 AFM 技巧共鸣以回应扩展,并且此共鸣由 AFM 评定。 (参见下面概要)。

“当 nanotechnologists 长期感兴趣对集成 nanostructures 时制造,他们由可能识别物质构成在毫微米缩放比例的缺乏工具限制了。"" 说克雷格 Prater,这个研究的共同执笔者,并且院长 Anasys Instruments Inc. 的技术军官 “AFM-IR 技术提供唯一功能同时映射形态学和执行化学分析在 nanoscale”。

本文题为, “异种聚合物技巧根据极小制作制造的 Nanostructures 毫微米缩放比例红外分光学”。 作者是乔纳森毛毡和伊利诺伊大学的威廉国王尔般那平原和凯文 Kjoller, Anasys Instruments Inc. 的迈克尔 Lo 和克雷格 Prater。

这个研究在纳诺的 ACS 本月被发布了。 它是可以在网上进行的在 DOI :10.1021/nn302620f. 这个研究由国防高级研究计划局、科学研究空军办公室和能源部赞助。

欲知详情,通过电子邮件请与 244-3864 教授联系国王, (217) 或者在 wpk@illinois.edu

Last Update: 16. October 2012 12:33

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