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Posted in | Nanomaterials

緊要地 AFM-IR 啟用的需要的化工計量學

Published on October 16, 2012 at 12:08 PM

Anasys 儀器報告關於與伊利諾伊大學的聯合研究工程的部門基於納米技術的材料確定哪裡啟用緊要地納諾製造的需要的化工計量學。

說明 AFM-IR 的概要學習聚合物 nanostructures

其中一個納米技術時代的關鍵成績是的製造技術發展可能製造從多個材料形成的 nanostructures。 合成材料的這樣毫微米縮放比例綜合化啟用了在電子設備、太陽能電池和醫療診斷的創新。

當有重大的突破在納諾製造中時,有在多個集成材料做的 nanostructures 計量學的較少進展。 伊利諾伊大學的研究員爾般那平原和 Anasys Instruments Inc. 現在報告可能支持最尖端的納諾製造的新的診斷工具。

「我們使用基本強制基於顯微鏡的紅外分光學 (AFM-IR) 分析聚合物 nanostructures,并且集成聚合物 nanostructures 系統」,在伊利諾伊大學爾般那平原學院和工程說威廉國王、工程機械科學的部門的極樂教授。 「在此研究,我們能化工分析聚合物線路一樣小像 100 毫微米。 我們可以明顯地也區分不同的 nanopatterned 聚合物使用他們的紅外吸收光譜如獲得由 AFM-IR 技術」。

在 AFM-IR,迅速地搏動的紅外 (IR)激光處理在吸收紅外線光并且進行迅速熱機的擴展的一個稀薄的範例。 與聚合物 nanostructure 聯繫的一個 AFM 技巧共鳴以回應擴展,并且此共鳴由 AFM 評定。 (參見下面概要)。

「當 nanotechnologists 長期感興趣對集成 nanostructures 時製造,他們由可能識別物質構成在毫微米縮放比例的缺乏工具限制了。"" 說克雷格 Prater,這個研究的共同執筆者,并且院長 Anasys Instruments Inc. 的技術軍官 「AFM-IR 技術提供唯一功能同時映射形態學和執行化學分析在 nanoscale」。

本文題為, 「異種聚合物技巧根據極小製作製造的 Nanostructures 毫微米縮放比例紅外分光學」。 作者是喬納森毛氈和伊利諾伊大學的威廉國王爾般那平原和凱文 Kjoller, Anasys Instruments Inc. 的邁克爾 Lo 和克雷格 Prater。

這個研究在納諾的 ACS 本月被發布了。 它是可以在網上進行的在 DOI :10.1021/nn302620f. 這個研究由國防高級研究計劃局、科學研究空軍辦公室和能源部贊助。

欲知詳情,通過電子郵件請與 244-3864 教授聯繫國王, (217) 或者在 wpk@illinois.edu

Last Update: 16. October 2012 12:33

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